由爱斯佩仪器网供应SGW-15J测量显微镜*,面向全国供货,所有产品均按国家规定销售,口碑相传的爱斯佩仪器竭诚为您提供全新的实验操作体验。
测量显微镜技术参数:
光学系统规格
物镜 | 目镜 | 显微镜 | 工作 距离 | 视场 直径 | ||
放大倍数 | 焦距 | 放大倍数 | 焦距 | 放大倍数 | ||
2.5×/0.08 | 43.40 | 10× | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
10×/0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.6 |
X轴遇到测量范围50nm
Y轴遇到测量范围13nm
测量器分度值:0.01nm
测量台转动范围不限:NO limit
测量台刻度盘分度范围:0°~360°
测量台刻度盘之分度值:1°
测量台刻度盘游标读数示值:6’
测量精度:
仪器示值误差:± (4+L/15)μ m
仪器示值误差:包括测量误差和系统误差
注:测量地点温度变化20℃ ±3℃,L--被测件长度
行业应用补充说明:
,采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于录象磁头、大规模集成电路线宽以及其它精密零件的测试。广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。工作台除作X、Y坐标的移动外,还可以作360?;的旋转,亦可以进行高度方向做Z坐标的测量;采用双筒目镜观察。照明系统除作透、反射照明外还可以作斜光线照明。仪器进一步可连接CCD电视摄像头,作工件的轮廓放大;亦可连接计算机进行数据处理等测量。
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