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美国EDX6000B X荧光光谱仪

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更新时间:2023-04-27 11:39:11浏览次数:8215次

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成像方式 计算机层析 工作原理 其他
价格区间 面议 使用状态 机载
应用领域 化工
美国EDX6000B X荧光光谱仪是美国天瑞公司08年推出的一款全新的全元素分析仪器,专注于水泥、钢铁、有色金属、矿料分析及RoHS检测等。X射线发生器性能良好,指标达到较高水平。性能价格比高。
一.美国EDX6000B X荧光光谱仪简单介绍;
美国EDX6000B X荧光光谱仪是美国天瑞公司08年推出的一款全新的全元素分析仪器,专注于水泥、钢铁、有色金属、矿料分析及RoHS检测等。X射线发生器性能良好,指标达到较高水平。仪器测试结果符合国家标准,性能价格比高。专为冶金、建材行业设计。
二.详细介绍
性能特点:
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测
抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
产品参数:
型号:EDX6000B
输入电压:AC  110V/220V
消耗功率:200W
环境温度:35℃—70℃
样品腔面积:320mm*180mm
外形尺寸:650mm*608mm*466
重量:75千克
技术指标:
元素分析范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
检测限:RoHS指令规定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限zui高达1ppm
功能范围:测量RoHS、矿料分析、镀层厚度、全元素分析 ,一机多用
测量镀层:镀层厚度测量zui薄至0.005微米,可分析11层以上的镀层
分析精度:0.05% (96%以上)
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
工作温度:15℃—30℃
工作湿度:≤70%
工作电压:AC 110V/220V
仪器配置:
信噪比增强器
光路增强系统
高效超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
样品更换器特点
具有16个样品更换器
操作简单、方便、省时
在无人操纵的情况下能自动处理大量样品
方便进行样品装载
能分析固体、液体、粉末、压片、矿浆、颗粒物、薄膜和涂层等


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