离子污染测试仪,PICT离子wu染 返回列表页

离子污染测试仪是专业为PCB电路板焊接测试设计的清洁度测试仪和离子污染度测试系统,是第一台ROSE和PICT离子污染测试仪。
离子污染测试仪尽管通常被称为“清洁度测试"，但Contanamimeter实际上是一种用于测量离子污染的工具。40多年来，该测试方法一直被*为电子电路板、组件和组件制造中的重要质量保证和过程控制工具。
国际标准IPC-J-STD001规定，组件的清洁度应小于1.5µg/cm2的NaCl当量。然而，新的设计与Gen3系统引入的新过程控制指标有关：过程离子污染测试（PICT）。CM+系列根据所有现有测试方法（通常称为ROSE测试）以及新的PICT测试来测量离子污染量。
离子污染测试仪有5种不同的型号和5种不同的油箱尺寸——在选择测试系统时，为被测电路使用尽可能最小的油箱尺寸非常重要。
所有离子污染测试仪系列均采用纯金测试单元、弹道放大器和强劲的泵送系统，以确保即使在非常低的电导率值下，也能达到的测量精度。基于PC的软件用于根据现行标准使用测试方法生成图形测试数据、通过/失败分析和自动硬拷贝打印。
在与罗伯特·博世（Robert Bosch）的一项合作研究中，离子污染测试仪CM+范围已被证明符合6西格玛标准，并在全球不同的生产现场使用了验证程序。CM+系统作为一种工艺工具，可用于优化制造技术和材料，并在全球不同生产地点进行制造控制，具有高度的确定性。
新的离子污染测试仪CM+系列包括以下内容：
离子污染测试仪特点
六西格玛（6σ）作为过程控制工具得到验证
仅需3分钟即可完成测试周期
高流体循环率，确保快速去除PCBA中的离子污染物，同时始终提供平滑、无气泡的循环
曲线拟合分析算法（拟合优点），用于预测较长测试的结果
纯金测量单元，弹道放大器，测试精度<0.005mS/cm
精确测量，即使测试溶液与测试表面积的比例很大
二氧化碳补偿功能，消除污染结果中大气污染的任何影响
自动温度补偿
通常在6分钟内*再生
新系列PCB/组件处理框架，带有集成排水系统
符合所有国际和MIL规范的措施旧的和新的
所有离子污染测试仪CM+系统均已证明仪表R&R（重复性和可靠性）为~2%
离子污染测试仪系统的精确度、灵敏度、线性度、精密度和可重复性都要高得多