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提供X-ray测厚仪的操作及方法，从而了解化学镀层（金、镍、锡、银）的厚度情况。
2.0 范围：
适用于本公司品质部物理实验室X-ray测厚仪。
产品简介
详细介绍
Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围：0-35um;
其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的*机型。测量精度：误差控制在±5%.
型号 | Type H | Type L | Type PCB |
主机箱大小 | 610W x 670D x 600H | 610W x 670D x 490H | 610W x 670D x 490H |
可测量样品大小 | 550W x 550D x 100H | 550W x 550D x 30H | Infinity x 30H |
XYZ三轴移动范围 | 200W x 150D x 100H | 200W x 150D x 30H | 200W x 150D x 30H |
zui大负重 | 5kg | 5kg | 5kg |