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电镀层测厚仪

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更新时间:2017-04-17 11:38:13浏览次数:688

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产品简介

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、

详细介绍

目的:

提供X-ray测厚仪的操作及方法,从而了解镀层(金、镍、锡、银)的厚度情况。

2.0  范围:

适用于本公司品质部物理实验室X-ray测厚仪

3.0  X-ray测厚仪操作要求及规范

3.1测试环境:温度22±3,湿度60±15%

3.2开机:打开测试主机、电脑、显示器,打印机电源

3.3进入Windows XP系统,双击Xray图标,此时输入设定的密码

3.4压:待机器完成初始化(既工作台上下移动一周)待机30分钟,可进行下一步操作

波谱校准: 每日必做,作用在于让仪器进行自我补偿调整。首先点击工具栏中系统调校图标      ,然后将系统调校准的标准片放入仪器移至十字线中间,对焦,测量(按START键)。待仪器自动完成*步,第二步zui后一步。此时对话框自动关闭,系统调校成功。若不成功,检查是否做错,重做一次也失败的话请致电仪器服务商。

 

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