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XRF测厚仪

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更新时间:2017-04-12 10:10:43浏览次数:840

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产品简介

XRF2000镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,操作非常方便简单,详情请电:

详细介绍

仪器规格及参数

 

 

X射线管

油冷式超微细对焦点X射线管

靶材:钨(W)、铝(AL)、钼(MO

管电压:0~50kv

管电流:0.1mA

照射方式

由上往下垂直照射方式

检测器

正比例计数管(PC

仪器校正

密度校正,标准样品校正

检测滤片

Co片,Ni片可选

 

准直器

固定型或自动型

固定型:可选0.10.20.30.40.05x0.3mm

自动型:0.10.20.30.40.05x0.3mm

输入电压

AC220V

温度控制

前置放大及主机温度控制

工作温度

室温(22~25℃)

真空样品室

排气所需时间

没有

可测量元素范围

钛(Ti)—铀(U

可测量厚度范围

原子序:22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um

测量时间

10~30s

操作接口

Windows XP

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