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膜厚测量仪

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更新时间:2019-03-22 13:03:49浏览次数:1228

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产品简介

◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
◆薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。
◆备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

详细介绍

仪器规格及参数

 

 

X射线管

油冷式超微细对焦点X射线管

靶材:钨(W)、铝(AL)、钼(MO)

管电压:0~50kv

管电流:0.1mA

照射方式

由上往下垂直照射方式

检测器

正比例计数管(PC)

仪器校正

密度校正,标准样品校正

检测滤片

Co片,Ni片可选

 

准直器

固定型或自动型

固定型:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.3mm

自动型:0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.3mm

输入电压

AC220V

温度控制

前置放大及主机温度控制

工作温度

室温(22~25℃)

真空样品室

排气所需时间

没有

可测量元素范围

钛(Ti)—铀(U)

可测量厚度范围

原子序:22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um

测量时间

10~30s

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