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    参考价: 面议 型号:
    FSM413红外激光测厚仪主要产品包括:光学测量设备:三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触...
    型号: 品牌:FSM所在地:上海市 对比
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    2024/11/9 14:01:595350
  • FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统 参考价: 面议

    参考价: 面议 型号:
    FR-Ultra 是一款专用于精确测量半导体以及介电材料超厚层的专用设备。 藉由先进的光学器件,FR-Ultra 可以测量光滑或粗糙的薄膜以及较厚的基材。
    型号: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 对比
    晶圆厚度测量FR-Ultra半导体测量半导体材料
    2024/11/9 15:45:581461

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