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X射线残余应力测量仪器根据的是布拉格定律，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法，是测量铁素体钢的X射线衍射法，也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)。
此设计主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
X射线残余应力测量仪器技术指标：
电缆线：标准配置为5米
电源：100-240 VAC，50/60Hz，600V
尺寸：主控单元 X3003：552x413x254mm
测角仪 G3：555x492x574mm
测角仪 G3R：966x573x605mm
技术特点：
1.准确、可靠、精度高；
2.检测量程宽；
3.操作简单，易于校准和维护；
4.方便快捷，两分钟之内完成整个操作过程；
5.采用超密封稳定结构，确保了在恶劣环境下测量准确性。
可实现残余应力和奥氏体同时测量
X射线源不需要水冷，方便安装和移动使用
系统超高灵敏度，超高测量速度和可靠性
适合测量的材料范围广
配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力
便携方便，可在实验室和野外现场测量
