WLI 德国BMT WLI白光干涉仪
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 佰汇兴业（北京）科技有限公司
- 品牌
- 型号 WLI
- 产地 德国BMT
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2019/3/14 16:28:46
- 访问次数 1126
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材料表面检测、摩擦磨损试验机、光学及轮廓表面测试、环境监测仪器、搅拌机、通用试验仪器和石油化工仪器等，公司代理的有德国WAZAU、德国BMT、德国APL、日本HEIDON、日本JFE、日本KOMATSU、意大利scavini等
德国BMT WLI白光干涉仪
采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量，评估和显示。装配不同的显微物镜，测量视场大小和精度也不同。视场的扩展可通过钉合的方式来实现。
ACM 600 使用特殊的微透镜扫描盘，使采集的单个测量点相互平行。ACM 600目前是*商业化的采用微透镜扫描盘的仪器。与尼普科夫扫描盘相比，微透镜扫描盘使光学系统反应快速，所以即使暗淡的表面也能够获得良好的测量结果。它的另外的*之处在于采用了LED作为光源，避免了使测量头发热，因而它的寿命几乎可以视为无限长。仪器配备了物镜切换盘，可以快速转换物镜。
检测物件的设定和测量全过程可以通过一个独立的监视器观察。测量软件基于Windows XP操作系统编制，并提供所有标准的评估程序。
仪器结构紧凑，耐用，特别适用于工业用途。在微透镜扫描盘自动伸出后，仪器可作为普通的显微物镜使用。
主要用途：
◆ 粗糙和光滑表面的测量和显示
◆ 亚微米范围内的微观形貌测量
◆ 金相测量
◆ 非接触式表面轮廓的计量
主要特点
◆ 0,1mm2到0,7mm2视场
◆ 采用钉合方式扩大视场
◆ 配置物镜切换盘
◆ 确定垂直分辨率来设定测量时间
◆ 横向分辨率可达1祄，垂直分辨率zui高可到5 nm
◆ 具有采用微透镜扫描盘的快速光学系统
◆ 全自动数据评估
◆ 实验室和在线两用设计
主要优点：
◆ 高保真轮廓复现，对物体三维结构快速，非接触式的定性和量化
◆ 测量结果与材料表面性能无关
◆ 根据用户需求配置系统和软件
◆ 无人干预全自动测量过程
◆ 将微透镜扫描盘自动伸出后可作为普通的显微物镜使用
◆ 采用压电驱动或步进电机进行垂直扫描
软件:
◆ Windows XP 操作系统
◆ 测量和评估软件包括下列功能： 水平调整，图像缩放， 轮廓线的提取，毛刺的剔除， 过滤， 数学计算，FFT，ACF，2D/3D 粗糙度参数，面积的测定， 斜度和波度的分布状态及其它。
◆ 用户特定要求的计算方法
技术数据：
采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量，评估和显示。装配不同的显微物镜，测量视场大小和精度也不同。视场的扩展可通过钉合的方式来实现。
ACM 600 使用特殊的微透镜扫描盘，使采集的单个测量点相互平行。ACM 600目前是*商业化的采用微透镜扫描盘的仪器。与尼普科夫扫描盘相比，微透镜扫描盘使光学系统反应快速，所以即使暗淡的表面也能够获得良好的测量结果。它的另外的*之处在于采用了LED作为光源，避免了使测量头发热，因而它的寿命几乎可以视为无限长。仪器配备了物镜切换盘，可以快速转换物镜。
检测物件的设定和测量全过程可以通过一个独立的监视器观察。测量软件基于Windows XP操作系统编制，并提供所有标准的评估程序。
仪器结构紧凑，耐用，特别适用于工业用途。在微透镜扫描盘自动伸出后，仪器可作为普通的显微物镜使用。
主要用途：
◆ 粗糙和光滑表面的测量和显示
◆ 亚微米范围内的微观形貌测量
◆ 金相测量
◆ 非接触式表面轮廓的计量
主要特点
◆ 0,1mm2到0,7mm2视场
◆ 采用钉合方式扩大视场
◆ 配置物镜切换盘
◆ 确定垂直分辨率来设定测量时间
◆ 横向分辨率可达1祄，垂直分辨率zui高可到5 nm
◆ 具有采用微透镜扫描盘的快速光学系统
◆ 全自动数据评估
◆ 实验室和在线两用设计
主要优点：
◆ 高保真轮廓复现，对物体三维结构快速，非接触式的定性和量化
◆ 测量结果与材料表面性能无关
◆ 根据用户需求配置系统和软件
◆ 无人干预全自动测量过程
◆ 将微透镜扫描盘自动伸出后可作为普通的显微物镜使用
◆ 采用压电驱动或步进电机进行垂直扫描
软件:
◆ Windows XP 操作系统
◆ 测量和评估软件包括下列功能： 水平调整，图像缩放， 轮廓线的提取，毛刺的剔除， 过滤， 数学计算，FFT，ACF，2D/3D 粗糙度参数，面积的测定， 斜度和波度的分布状态及其它。
◆ 用户特定要求的计算方法
技术数据：
| 共焦显微镜头 标准规格配置50x/0.8物镜 带有微透镜扫描盘的扫描共焦传感器 | |
| 光源 | LED |
| 寿命h | > 50,000 |
| 采用步进电机时的测量范围mm | 50 |
| 采用压电执行器件时的测量范围µm | 100/150 |
| zui高垂直分辨率nm | 5 |
| zui高横向分辨率µm | 1 |
| 工作距离mm | 0.66 |
| 视场µm | 370 x 280 |
| 256个高度台阶的测量时间s | 约30 |
| 重量kg | 约12 |
| 测量工作台 | |
| X、Y、Z每轴位移mm | 50 |
| zui小步距µm | 1 |
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