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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>集成电路测试与分选设备>信号测试系统/半导体测试机>LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统

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LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统

具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


深圳力钛科技术有限公司Shenzhen Letak Technology Co., LTD (简称力钛科技术)成立于2014年,是一家集研发、生产和销售为一体的企业。力钛科技术通过与美国Teledyne LeCroy等多个厂家的紧密合作,共同开发了针对市场应用的产品,专注于功率半导体开发和应用,  并推出了静态参数测试系统、功率半导体动态参数自动化系统、半导体可靠性试验系统等半导体测试仪器.

半导体器件静态参数测试系统,半导体动态测试测试系统

硬件优势>>>

■ 采用LECRO   12bit示波器,测试结果更准确

■ 高带宽的电压探测,能满足SIC/GAN的测量要求

■ 可以满足上/下管同时测试,避免频繁连接探头

■ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展

■ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件

■ 可根据客户需求定制

■ 可以增加器件的温度特性测试

■ 硬件可以升级自动机械手

 

软件特点>>>

■ 测量参数齐全:开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩测试

■ 支持器件类型多:单管/模块,MOSFETIGBT

■ 离线数据分析:既可以在线测量,也可

■ 以记录数据离线分析

■ 测试方式:单脉冲、多脉冲

■ 可灵活设置测试项目

■ 软件具有较强的扩展能力

■ 测量项目及器件支持扩展

 

参数系统>>>

名称

说明

采集带宽

500 M Hz/1 GHz

采样率

10 Gsa/S

系统电压

DC—2000V/6000V

电压输出精度

±0.2%最⼤量程

电流

300A—3000A

短路电流

2000A—10000A

测量精度

2%量程(典型值)

驱动电压范围

±20V

测量参数

Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等

测量项⽬

开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩能量测试

测量器件

单管/模块,MOSFET、IGBT、FWD

脉宽

20ns-1000us.

脉冲数

单脉冲、2-5脉冲

测量标准

IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173




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