半导体技术测试系统推荐——介电特性评估系统AMQ

计测产品推荐

电容器温度特性评估系统

介电特性评估系统AMQ

“电容器温度特性评估系统”是一个自动多通道系统,可将环境测试箱与测量和评估系统相结合，以便高效收集数据。

测试内容

*记录的测量结果可以在图形和列表中实时查看。

八个通道的数据可以显示在一个图表上。

可以根据偏好选择要显示的频道。

产品性能

1、最多可自动测量128个通道

该系统可在不同温度环境下测量多个通道的静电容量(C)、损耗系数(D)和阻抗(Z)。

您可以选择8个通道的倍数,最多128个通道。

2、图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据,包括不同温度、频率和时间下的电气特性值和变化率，可通过各种图形函数实时查看。

3、多测试模式

有三种测试模式可选:温度特性评估测试、定值运行测试和频率特性测试。

温度特性评估测试

在此测试模式下,自动记录特性数据,并与温度同步变化,最多40步。

定值运行测试

该测试模式测量特定温度环境下特性随时间的变化,并自动记录数据。

频率特性评估测试

该测试模式自动记录各种频率下的特性数据,同时在特定温度环境中改变频率。

测试可与温度特性评估测试或定值运行测试相结合。

SMD组件专用夹具(可选)

4、各种可选夹具可用于不同的测试样品(可选)

除了用于SMD元件的专用夹具外,我们还提供针对分立器件形状定制的夹具。

SMD组件专用夹具(可选)

规格

*测量数据取决于试样和测试条件。