Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统产品介绍：

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统优势：

XRF系统

高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器。峰位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。与其他同类型设备相比，X射线管和探测器的闭合耦合几何布局光子数有明显提升。

直观的用户界面

Bowman配套软件将为仪器的性能提供支持。Bowman XR F高精度镀层测量系统的分析数据拥有强大的软件作为支持，该软件将拥有直观的用户界面，操作简单友好。测量数据可通过批次号进行检索，报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式，所有结果自动保存到电脑数据库，所有用户级别都可以设置密码保护。

广泛的镀层厚度测量范围

BowmanXRF高精度镀层测量系统可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析。

• 单层镀层：Au，Ag，Ni，Cu，Sn，Zn等

• 合金镀层：ZnNi合金，SnPb合金等镀层厚度和成分比例同时分析

• 双层镀层：Au/Ni/Cu，Sn/Ni/Cu，Cr/Ni/Fe等

• 三层镀层：Au/Pd/Ni/Cu等

• 至多可分析5层镀层

• 可同时分析25种元素成分

• 可分析电镀溶液中的金属离子浓度

• 可分析ROHS有害元素

Bowman XRF 高精度镀层测量系统服务支持：

Bowman为用户提供的XRF技术支持和服务。目前，除美国芝加哥总部外，Bowman已在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供现场技术支持服务，从而成就用户。Bowman在中国上海设有演示应用中心，培训中心及备品配件库，在深圳，杭州，西安设有办事处。有能力为客户提供贴心的镀层厚度检测方案和快速相应的售后服务。

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统配置：

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可以升级为包括多个准直器，可变焦距相机和SDD探测器。

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统测量原理：

‌Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统利用X射线荧光原理测量镀层和成分。当高能X射线照射金属薄膜表面时，入射光子击出薄膜或基底材料原子的内层电子形成空穴。外层电子跃迁填补空穴时释放特征X射线荧光，其能量与元素的原子序数一一对应，通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。

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Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统行业应用：

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统产品参数：