| 应用领域 | 环保,化工,生物产业,能源 | 能量范围 | 4.5-20keV |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近边) | X射线光源 | 1.2-1.6kW闭管 |
| 光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV | 单色器晶体 | 直径100mm,球面半径500mm(Si/Ge)) |
| 探测器 | SDD探测器 | 自动样品轮 | 16工位 |
一、工作原理
X射线近边吸收谱仪利用光子的能量与物质内部电子能级的差异，通过测量X射线在物质中被吸收的能量来分析物质的电子结构。在X射线近边吸收光谱中，每种元素的吸收谱线都具有不同性，这使得我们能够通过这种技术来准确鉴定物质中元素的种类和数量。此外，该技术还能用于研究物质的物理和化学性质，如电子结构的变化、化学键的形成和断裂等。
二、工作特点
小型化桌面式系统，易于使用：
1.支持近边快扫功能；
2.支持原位测试等扩展功能；
3.人体工学高度设计，操作更便捷；
4.内置实验参数预置，实现快速测量；
5.不同样品、不同测量模式一键自动切换；
6.远程数据传输，实时显示实验进程和结果支持无人值守测试；
7.专业的应用技术支持和数据分析支持；
8.仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁，保证人身和使用安全。
XAFS专用弯晶：
1.不同晶面配置齐全，实现各个元素覆盖；
2.预准直安装，即插即用；
3.可根据需要元素定制特殊弯晶，达到最佳性能。
三、应用领域
1.材料科学：可用于研究材料的晶体结构、电子结构、元素分布等，为材料的设计和优化提供重要依据。
2.能源与环境：可用于研究新能源材料的电子结构、化学反应机理等，为新能源的开发和利用提供有力支持。
3.生物学：可用于研究生物大分子的空间构象、功能基团以及相互作用等，为生物医药研究提供有力支持。
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