cmi243镀层测厚仪

cmi243镀层测厚仪

1、采用基于相位的电涡流技术，集测量精密、价格合理、质量优势于一体的手持式测厚仪。

2、为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量，铁质底上金属镀层-即使在小的、几何形状的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。

3、易于用户控制，并且可以同X线荧光测仪的准确性和精密性。

4、为了让客户能以低成本购买243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

测量技术：

一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的测量。

牛津仪器将基于相位的电涡流技术应用到243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的精确度。

牛津仪器对电涡流技术的应用，将底材效应最小化，使得测量准确且不受零件的几何形状影响。

另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

cmi243镀层测厚仪

测量范围：

技术参数及功能：

ECP-M探头规格(mm)

243E是一款灵便、易用的仪器，为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上金属镀层-即使在小的、几何形状的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的工具。采用基于相位的电涡流技术。

243E手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性。为了让客户能以低成本购买。OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。

牛津涂层测厚仪

牛津仪器公司提供高一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效

应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的测量。

牛津仪器将基于相位的电涡流技术应用到243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的应用，将底材效应小化，使得测量值且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。ECP-M探头为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量铁质底材上金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为小的、几何形状的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。