Xradia 800 Ultra 蔡司X射线显微镜

   蔡司Xradia800UltraX射线显微镜总体描述

   创新的Xradia800Ultra，将高通量实验室X射线源与专业的X射线光学器件整合至一套独立的超高分辨率CT扫描X射线显微镜中，从而填SEM、TEM或AFM等现有高分辨率成像技术与光学显微镜技术或传统microCT技术之间的空白。

   蔡司Xradia800UltraX射线显微镜技术参数：

   无损三维X射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像

   在原位设备中样品成像保持低至50nm的高分辨率

   用于断层扫描重构的图像自动调整功能

   视野可在15至60μm的范围内进行切换

   吸收衬度和Zernike相位衬度成像模式

   在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验，让有限的同步辐射时间更加有效率

   搭配Scout-and-Scan控制系统和基于工作流程的用户界面，尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室

   特点：

   Xradia800Ultra的分辨率低至50nm，使微观结构和进程可视化，这些是传统实验室X射线技术不能实现的。在X射线能量为8KeV下运行，穿透力和衬度适合各种材料，使您可以观察自然状态下的结构和材料。

   集成相位衬度技术的Xradia800Ultra运用Zernike方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度，使未染色的超结构和纳米结构可视化。

   蔡司Xradia800Ultra采用类似横切法的无损技术，提供可信赖的内部3D信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。