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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>无损检测>工业CT> 射线显微镜Xradia 510 Versa

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射线显微镜Xradia 510 Versa

参考价 ¥ 600
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北京凯瑞永科技有限公司成立于2021年,拥有一支具备多年工作经验、技术精良的业

务工程师团队。

北京凯瑞永科技有限公司主要销售德国蔡司工业质量领域的工业显微镜、电子显微镜及

X射线显微镜等相关产品。经过多年的积累与发展,北京凯瑞永能为广大客户提供技术咨询、

产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的全套专业服务。

北京凯瑞永客户主要涵盖汽车制造、航天航空、船舶军工、电力、石油石化、电子半导

体等行业,高等院校、科研院所、工业材料、军工系统、压力容器、特种检测、新型材料研

发、精密仪器制造等领域。中国商飞、济南重汽、宇通客车、长城汽车、北京奔驰、富士康、

比亚迪、中通客车、金雷风电、洛阳中收、三一重工等企业都是我们长期服务的优质客

户。

蔡司工业质量解决方案

您多维工业质量解决方案的合作伙伴

我们的产品包括坐标测量机、光学三维扫描系统和多传感器系统、工业显微系统以及应

用于汽车、飞机、机械工程、塑料和医疗技术行业等的计量软件。同时,作为富有创新的产

品和服务提供商,蔡司工业质量解决方案不断攀登科技高峰,开发用于质量检验的三维X

射线等创新技术以完善产品组合。蔡司工业测量技术部生产和供应多维测量实验室、数控

三坐标测量机和解决方案。该公司是汽车行业的合作伙伴和供应商。在四

个国家的生产基地和全球100多个销售和服务点,一共拥有2,400名员工。

 

 

 

 

 

德国蔡司ZEISS光学显微镜、超景深显微镜、电子显微镜、X射线显微镜、三坐标等设备。

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合

射线显微镜Xradia 510 Versa总体描述

沿袭前一代的获奖设计,Xradia 510 Versa已然成为 Xradia Versa 系列中拥有出色三维成像性能的基本款型,但其不包含旗舰产品的高级功能与特性。
拥有出色三维成像性能的X <strong>射线显微镜Xradia 510 Versa</strong>

射线显微镜Xradia 510 Versa技术参数:

Xradia Versa 系列使用两级放大技术,实现大工作距离下的高分辨率(RaaD)。首先,样品图像与传统微米 CT 一样进行几何放大。在第二级,闪烁器将 X 射线转换为可见光,然后进行光学放大。Xradia Versa 解决方案降低了对几何放大的依赖性,因此可在大工作距离下保持亚微米高分辨率,使得对各种尺寸的样品和原位样品舱内的样品进行高效研究成为可能。
无损三维成像,尽可能实现更大限度保护和扩展贵重样品的利用率
使用Versa显微镜设计,实现距离射线源大工作距离的高分辨率,是原位和大体积样品成像的先决条件
多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像,拥有高达0.7微米的真实空间分辨率,体素大小低至70纳米
业内先进的4D和原位功能提供多种原位辅助装置,适用于实际尺寸从毫米到数厘米的样品的亚微米级分辨率成像,承重可达 15kg,样品尺寸最大到300mm的双级放大构架可以轻松通过多种倍率检测系统进行导航,通过自动多点断层扫描和重复扫描进行连续运转以及快速重建
适用于低原子序数材料和软组织的先进成像衬度解决方案
搜索和扫描(Scout-and-Scan™)功能可实现多用户环境下的简化工作流程
几乎无样品制备需求
可选配的Versa原位辅助装置支持环境样品舱内(如线缆和管线)的配套设施,达到更高的成像性能和轻松设置
可选配的自动进样系统可编程和同时运行多达14个样品,提高了生产效率,全自动工作流程可用于大体积扫描


特点:

距离射线源数毫米至数厘米,仍能获得真实的亚微米级空间分辨率
Xradia 510 Versa 充分发挥了X射线显微镜(XRM)的性能,能够为各种不同的样品和研究环境提供灵活的3D成像解决方案。Xradia 510 Versa 拥有高达 0.7 微米的真实空间分辨率,体素大小低至 70 纳米。结合先进的吸收衬度技术和适用于软材料或低原子序数材料的创新相位衬度技术,Xradia 510 Versa 的通用性得到提升,以至能够突破传统计算机断层扫描方法的局限性。

性能超越微米CT,突破了过去科学研究中使用平板系统的局限。传统断层扫描依赖于单级几何放大,而 Xradia Versa 依靠拥有在长工作距离下优化的分辨率、衬度和高分辨检测系统,并采用了基于同步口径光学元件的的两级放大技术。蔡司突破性的的大工作距离下的高分辨率(RaaD)特性,实现了在实验室中对各种类型和尺寸的样品和多种应用进行全新的探索。

无损X射线和灵活的多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像。作为业内先进的4D/原位解决方案,Xradia Versa 可以对原始环境下的材料微结构,以及随时间的演化进行独的表征。可选配的Versa原位套件通过优化设置和操作,操作极为简便,同时缩短了获得结果的时间,并支持原位辅助装置(如线缆和管线),实现高成像性能和易用性。

另外,搜索和扫描控制系统(Scout-and-Scan™)可实现多用户环境下的简化工作流程。





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