GeminiSEM 系列低电压成像电子显微镜

GeminiSEM 系列低电压成像电子显微镜

GeminiSEM 系列低电压成像电子显微镜总体描述

为对任意样品进行高水准的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。

技术参数：

Gemini 1 –成熟的Gemini技术概览
场发射扫描电子显微镜具有更高的分辨率，离不开其性能优异的电子光学镜筒。蔡司Gemini技术专为对任意样品进行高分辨成像设计，尤其在低电压下保持完整和高效的探测系统、出色的分辨率和易用性等特点。
蔡司Gemini电子光学镜筒具有以下三个主要特点
蔡司Gemini物镜的设计结合了静电场和磁场，在提高其电子光学性能的同时将它们对样品的影响降至更低。无漏磁物镜设计，可以对如磁性材料等挑战的样品同样地进行高品质成像；
蔡司Gemini电子束推进器技术，让电子束经过加速后以高电压通过镜筒，最终再减速至设定电压后进入样品仓，很大程度地减小电子束的像差，保证了在非常低的加速电压下仍可获得小束斑和高信噪比；
蔡司Gemini 镜筒的设计理念将Inlens二次电子（SE）和背散射电子（BSE）探测器均放置在镜筒内正光轴上，使两者均具有更高的信号采集效率且可以同时成像，有效的缩短了获取图像的时间，更好地提高工作效率。
蔡司Gemini技术优势能为您提供以下便利：
经校准后的镜筒具有长期的稳定性，您在日常使用时只需要简易地设定基本的参数，如加速电压、探针电流等；
无漏磁的物镜设计，可对包括磁性样品在内的各类型样品进行无畸变、高分辨率的成像；
Inlens二次电子探测器具有高效的SE 1信号采集效率，给您呈现来自样品极表面的真实形貌图像；
镜筒内能量过滤背散射探测器以其创新的设计理念，使您在低电压下可获得高分辨率、高衬度、以及更真实的样品材料衬度图像。

特点：

更强的信号，更丰富的细节
GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。
更高的速度与灵敏度，更好的成像和分析
GeminiSEM 450更快的响应和更高的表面灵敏度使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析，简便、快速地进行EDS能谱和EBSD等分析，同时保持出色的空间分辨率，充当您的得力助手。
更灵活的成像方式
无论是资深用户还是初学者，GeminiSEM 300将让您体验到在更高的分辨率和更佳的衬度下进行极大视野范围成像的乐趣，并且在高真空或是可变压力模式下都可以实现。

蔡司 GeminiSEM系列场发射扫描电子显微镜

高分辨，不挑样

长久以来，蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM一直是高分辨力与宽样品适用性的代名词。无论您从事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以满足您的需求。创新的电子光学系统和新型样品腔室设计可让您拥有更佳的图像质量、易用性和灵活性。蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸没式物镜依然可以轻松实现1 kV以下的亚纳米级分辨力。以下内容可以使您进一步了解Gemini电子光学系统的三大设计，探索蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM的应用潜能。

更灵活的成像工具 – 配备Gemini 1镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 360可以实现各种样品的高分辨成像、分析和各种应用需求的拓展。

更强大的分析能力 - 配备Gemini 2镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 460可应对更加复杂的分析工作。连续可调的大束流使您可以在成像和分析条件之间无缝切换。

更的表征体验 - 蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 560配有Gemini 3镜筒及其新型电子光学引擎，让它在各种工作条件下均可发挥该系列的分辨率特性。

技术参数：

特点：

蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 360

它是中心实验室的得力助手，在科研和工业领域中具有高通用性。

灵活的样品适用性

场发射扫描电镜GeminiSEM 360是中心实验室的理想选择，在科研和工业中具有非常高的通用性。

产品搭载Gemini 1镜筒，在低电压下依然具有高分辨成像能力，让您轻松获取样品极表面高分辨信息。

通过镜筒内二次电子和背散射电子同时成像，即使对于电子束敏感样品也可以获取高分辨的表面形貌和成分衬度。

在低真空下（NanoVP）拍摄不导电样品时，依然可以通过镜筒内Inlens探头获得优异衬度：无荷电高分辨。

出色的用户体验

场发射扫描电镜GeminiSEM 360可提供出色的用户体验：该产品具有广阔的视野范围和大体积腔室，可以轻松检测大尺寸样品。

利用蔡司ZEN Connect软件可在多种显微镜（例如光镜、电镜、X射线显微镜）之间进行无缝导航。

使用蔡司的自动对焦和智能探测器等自动功能轻松采集清晰、锐利的图像。

具有对称的EDS端口和共面的EDS / EBSD几何设计，可高效执行成像和分析工作流程。

可有效延长系统正常运行时间，并让您从容地进行计划内维护。

优异的功能扩展性

可升级的系统可有效减少重复投资。因此，我们将场发射扫描电镜GeminiSEM 360融入蔡司ZEN core软件生态系统中。

ZEN软件生态系统包括：ZEN Connect可关联多仪器、多尺度数据；ZEN Intellesis是基于AI的自动分析工具； ZEN数据存储功能可以让您在一个数据中心节点上管理不同仪器的实验数据。

可访问作为APEER社区成员的其他用户创建的工作流和脚本，帮助您解决难题。

.明确的升级路径帮助您的设备更好地升级最新的功能。

蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 460

具有更强大的分析能力，可进行高效分析和自动化的工作流程。

利用高分辨率和大束流

场发射扫描电镜GeminiSEM 460专为有挑战性的分析任务而设计，可进行高效分析和自动的工作流程。

Gemini 2镜筒可快速执行高分辨成像和大束流分析：从小束流-低电压无缝切换到大束流-高电压。

并行使用多个探测器，提供样品的数据。

多接口腔室设计可兼容更多探测器，以进行高效分析。

使用新的VP模式在大束流下采集EBSD谱图可达4000点/秒的标定率。

对于化学成分和晶体取向的分析，具有两个对称的EDS端口和共面的EDS/EBSD几何学设计，可实现更快速度且无阴影的面分析结果。

定制化的自动化工作流程

强大的分析功能与自动化流程相结合，让您的分析工作更进一步。并且蔡司还可以通过Python脚本来定制您自己的自动化实验。

修改实验过程并根据您的要求定制结果输出。

STEM三维成像功能：将自动倾斜和旋转与蔡司的特征点跟踪相结合。将所有自动对齐的图像发送到专有的3D重构软件后，生成具有纳米级分辨率的3D形貌。

当您需要测试材料的加工特性时，蔡司将为您提供自动化的原位加热和拉伸实验平台：它可以让您自动观察在加热和拉伸条件下的材料，同时动态绘制应力-应变曲线。

为您带来更多可能性

基于Gemini 2镜筒设计，即使在低电压时，也可以通过调高束流密度来提高分析能力。

能够使系统与各种配件相兼容。多功能型腔室不仅可以配置分析附件，还可以配置原位台、冷冻传输系统和纳米探针。

.因此，您可以随时对仪器进行配置更改和升级。

所有GeminiSEM均已融入蔡司ZEN core生态系统，您可以利用ZEN Connect、ZEN Intellesis和ZEN分析模块，以获取报告和GxP工作流程。

蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 560

表征体验，让您轻松对困难样品进行1 kV以下的高分辨、无畸变成像。

表面成像的新标准

场发射扫描电镜GeminiSEM 560全面提升你的电镜体验，即使在1kV以下也可以很轻松地对电子束敏感的样品进行无畸变高分辨的成像。

Gemini 3镜筒搭载Nano-twin物镜和新型电子光学引擎Smart Autopilot，可在1 kV以下对样品进行1 nm以下分辨率的无漏磁成像-无需样品台偏压或单色器。

通过新的可变气压模式和检测系统对不导电及气压敏感的样品进行成像：将真空敏感样本通过低真空样品交换室进入电镜腔室，可以维持样品最本征的结构后快速成像。

利用带双EDS接口的新型大型腔室，轻松分析复杂样品。通过优化的探测器几何设计确保快速、无阴影的图像。

融合专业知识

新的电子光学引擎Smart Autopilot可全面提升对高难度样品的成像体验。

新系统的大视野功能可让您轻松进行样品导航。

Smart Autopilot可让您节省时间，同时避免进行复杂的的光路对中：该引擎可自动调整光路，让图像从一倍放大至五十万倍时始终保持光路对中聚焦良好的状态。

Smart Autopilot包含蔡司的自动对焦和自动光路对中功能，可在几秒内为您提供清晰、锐利的图像。

Python脚本能够在自动化工作流程（例如3D STEM断层成像）中集成软件功能。

体验出色的衬度

样品拍摄中的最佳成像条件，意味着您结合了最佳的参数组合来获得的图像：所以拍图诀窍就是找到它。

Gemini镜筒技术及其无漏磁成像技术和全新的Gemini 3镜筒可使您找到这些最佳成像条件，并从样品中发现新的信息。

场发射扫描电镜GeminiSEM 560可以轻松拍摄磁畴衬度，它在样品上的磁场小于2 mT。

使用带能量过滤器的Inlens背散射探测器进行能量分辨背散射电子成像，同时通过环形背散射探测器进行角分辨背散射电子成像。

通过ZEN Connect对所有数据进行整合，轻松生成报告。