DLT-QC-210 超声扫描显微镜

超声波C 扫描检测系统 DLT-QC-210

产品介绍

超声扫描显微镜

超声扫描显微镜DANA-QC210 用于对材料科学，半导体行业等相应产品的内部缺陷检测，利用高速线性马达运动系统，对产品进行水浸C 扫描检测，全波列采集超声波信号，利用成像算法和数据图像处理功能，对产品内部的缺陷进行有效识别，得到内部清晰图像，并统计分析缺陷位置、形状和尺寸，生成自定义报告。

二、产品特点 FEATURES

适用产品：芯片、塑料封装IC、PCB、金属基板、晶片、半导体电子行业；Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,

检测结果稳定性、 一致性高；

High stability and consistency of test results;

高速定位，快速成像；

High-speed positioning and fast imaging;

操作简单，使用安全，检测结果格式多样化；

Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;

技术参数 SPECIFICATIONS

运动系统/Motion system  

XY轴扫描范围/Scanning range of XY axis 300*300mm   (可定制/Customizable)

扫描速度/Scanning speed                                 1000mm/s

重复精度/Repetition precision                                 1um

超声发射接收/   Ultrasonic emission and reception

工作频率范围/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz

激励脉冲形式/Excitation pulseform                 方波/Square wave

工作温度/Working temperature                 -10℃~+50℃

采样率/Sampling rate                                 100MHz,  可支持，GHz/100MHz,Support IGHz

重复频率/Repetition frequency                  20khz

数据传输率/Data transfer rate                                  5G

采样点数/Sampling points                                  4K (可定制)/4K(Customizable）

增益调节/Gain adjustment                                 -13~66dB 连续1dB 可调/- 13~66dB  continuous  IdB  adjustable

软件功能/Software function

A、B、C、D扫描图像                                                  界面跟踪、区域重扫

A,B,C, D scanning imaging                                  Interface tracking, area re-scanning

多种特征成像方式/Multiple imaging methods  多种数据处理、图像处理方式

                                                                                  Multiple data processing and image processing methods

缺陷定位统计分析/                                                       数据库统计、自定义报告模板/

Statistical analysis of defect location                         Database statistics, customizable report template