LJD-C 介电常数介质损耗测试仪
- 公司名称 北京航天易达仪器设备有限公司
- 品牌 航天易达
- 型号 LJD-C
- 产地 北京
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/1/12 17:07:53
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| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 2万-5万 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,能源,建材,汽车,电气 |
介电常数介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
技术参数
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。 LJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：
1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位
介电常数介质损耗测试仪主要技术特性
| Q 值测量范围 | 2 ～ 1023 ,量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000,自动换档或手动换档 |
| 固有误差 | ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％(200kHz ～ 10MHz ),≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作误差 | ≤7％ ± 满度值的2％( 200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 电感测量范围 | 4.5nH ～ 140mH |
| 电容直接测量范围 | 1 ～ 200pF |
| 主电容调节范围 | 18 ～ 220pF |
| 主电容调节准确度 | 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％ |
| 信号源频率覆盖范围 | 100kHz ～ 160MHz |
| 频率分段(虚拟) | 100 ～ 999.999kHz ,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz |
| 频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 |
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