XRF合金分析 X荧光合金材料光谱分析仪

   这一仪器在国内技术基础上，采用了“智能动态跟踪”和“标准曲线的非线性回归”等*技术，使传统的仪的日常调整和标样曲线的建立方法起了根本性的变化。现已大量地应用在冶金、铸造、采矿、建筑、机械、电子、环保、卫生、化工、电力、技术监督等三班倒连续作业以及杂技上对固定的场合，如炉前、成品来料化验等。

     X荧光合金材料光谱分析仪为X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
     X荧光合金材料光谱分析仪的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

超薄窗X光管
数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测

微机有色金属分析仪能检测有色金属，可分析铜合金硅、铜、铁、镁、钛、锰、铬、镍、锌、铜、锡、铅等元素的分析，可储存16条曲线，并可进行曲线修正，具有断电数据保护等功能，结果数据直显且可自动打印。

主要分类：

HNi65-5镍黄铜具有单相的α组织，室温下具有很好的塑性，也可在热态下变形，但是对杂质铅的含量必须严格控制，否制会严重恶化合金的热加工性能。