PHI Versaprobe 4 X射线光电子能谱仪
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- 公司名称 上海斯迈欧分析仪器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2023/12/23 11:38:32
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| 价格区间 | 150万-200万 | 仪器种类 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
XPS 作为一种重要的表面分析方法，广泛应用于固体材料表面的元素组分和化学态的研究，例如电池材料，催化剂，集成电路，半导体，金属，聚合物，陶瓷和玻璃等，可满足从研发到失效分析的广泛分析需求。VersaPrabe4 采用了全新设计的高灵敏分析器，灵敏度是上一代的2倍，具有更低的检测限，能够实现从微区到大面积的高灵敏度化学分析。微聚焦扫描X射线和SXI影像，通过类似SEM的SXI影响可以作为样品导航，实现100%精准地定义微区分析位置
PHI Versaprobe 4 X射线光电子能谱仪应用范围：
包括表面的元素与化学态分析（氢和氦除外）。
表面物种的化学状态的识别，包括有机和无机材料，导体和绝缘体。
深入薄膜中的组成元素分布概况，包括半导体、薄膜结构，磁介质薄膜，光学镀膜，装饰涂料，和耐磨涂层。
在必须避免会对电子束技术有破坏性效果时的样品成分分析。
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