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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>集成电路测试与分选设备>探针台>GP200SiPH 硅光探针台

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GP200SiPH 硅光探针台

具体成交价以合同协议为准

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南京芯测软件技术有限公司,专业打造半导体晶圆级测试及芯片检测等系统集成平台。公司致力为客户提供半导体测试设备国产化改造,以及系统集成的一站式平台服务。公司的目标是成为国内晶圆级在片测试,器件测量系统软硬件的最好供应商,以满足国内用户需求,开发半导体测试设备和系统集成软件定制化服务。

南京芯测的在专注于在片测试系统设备经销与晶圆在片测试软件的研发。产品包括:手动探针台、半自动探针台、全自动探针台、硅光探针台、射频探针台、高低温探针台、除此之外涉及经销ESD测试系统、封装及工艺检测设备等。我们服务的领域涵盖半导体晶圆级在片测试、射频微波器件测量,大功率器件测试、微组装封装工艺检测、失效分析、材料测试等应用行业。




半导体测试设备,探针台,ESD测试设备,微波射频测量设备,

晶圆尺寸 200mm 产地 国产

 

型号:GP200-SiPH 

8英寸硅光测试手动探针台

应用:GP200-SIP系列8英寸探针台包含硅光芯片的DC&RF&OO测试所需的完整配置,在短时间内可准确地完成芯片的参数测试与提取。

 

XY行程

快速定位行程:210mm×210mm; 精调行程: 210mm×210mm 

精调分辨率:≤ 1.0 μm;驱动方式:手动

Z轴行程

10mm;驱动方式:手动  

Theta旋转

快速旋转角度:360°;精调角度:±15°,精调分辨率:<0.02°;驱动方式:手动

Chuck

尺寸:203mm(8inch) ;真空盘可调节高度:±5mm

真空快速切换开关,真空调节档位:Center2’4’8’

安装方式:真空盘与主体绝缘

台面精度

平面度:<10 μm

快速拉出结构

行程:100mm

 



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