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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>热分析仪器>差示扫描量热仪(DSC/DTA)> 天美 CRY-1A/2A 差热分析仪

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天美 CRY-1A/2A 差热分析仪

具体成交价以合同协议为准
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差热分析仪

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江苏斯托利仪器仪表有限公司

JIANGSU SITUOLI INSTRUMENT CO., LTD.

                                                                                                                         

     SITUOLI ®


      江苏斯托利仪器仪表有限公司(简称SITUOLI)是专业的生命科学仪器制造商,成立于2014 年,公司设在南京江北新区,是集自主研发和贸易代理为一体的高新技术企业、江苏省民营科技企业;事业范围主要有光学仪器、分析仪器、测试检查仪器、工业设备等代理、制造、销售和研发。


      SITUOLI办公地点设在南京江北新区学府路24号19幢1F-2F,公司拥有2000平方办公面积。公司内部设有演示中心、维修中心,为客户提供产品宣传推广和及时周到的售后服务。目前自主研发销售的产品主要有光学显微镜、LED荧光照明装置、显微数码相机、光学配件、光源、定制/改造、OEM组件、全自动化仪器等设备。


      SITUOLI立足于自主研发,同时代理了多家前沿生命科学仪器品牌。如PHCbi生命科学研究产品、TissueGnostics(TG)全景组织细胞定量分析系统、普利赛斯天平等,公司设有研发部、生产部、销售部、售后部、应用部。特别是应用部,负责用户应用培训、技术指导、样品测试等工作,为用户提供更好的DEMO演示和技术支持。售后部具有稳定的维修团队,肩负用户的仪器安装及维修工作。




Our Customers

部分合作客户

与众多高校以及科研机构合作,为生命科学领域及实验室的发展,提供解决方案及综合技术服务。

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办公/生产研发中心:

地址:南京江北新区学府路24号19幢1F-2F

1F-2F, Building 19, 24 Xuefu Road, Jiangbei New Area, Nanjing, China

电话:025-86562084、58865963

邮箱:info@jsstl.cn

网站:www.situoli.cn  / www.jsstl.cn



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显微镜,荧光显微镜,LED荧光照明装置,显微成像系统,显微数码相机,光学配件,荧光滤色片,天平,低温保存箱

产地类别 国产 价格区间 面议
仪器种类 差示扫描量热仪 应用领域 医疗卫生,化工,生物产业,综合

天美差热分析仪(CRY-1A/2A)


——


差热分析(differential thermal analysis, DTA)是在程序控温下,测量物质与参比物之间温度差随温度或时间变化的一种技术。在程序控温下,不断加热或冷却降温,物质将按照它固有的运动规律而发生量变或质变,从而产生吸热或放热,根据吸热或放热便可判定物质内在性质的变化。如:晶型转变、熔化、升华、挥发、还原、分解、脱水或降解等。


商品详细介绍


  1. 差热分析法
    DTA(Differential thermal analysis):在一定的环境和温度程序下,测量样品和参比物温度差与温度关系的技术。
    用途:可以对升华、蒸发、热分解、脱水等在测量中质量发生变化的化学、物理变化进行测量。TG(热天平)对于样品的氧化、热分解、脱水等重量变化,耐热性的评价与反应速度的分析的测定十分有效。
    CRY-1A/2A仪器功能及特点
    • 炉子体积小、重量轻;炉子的热容量小,升降温速率快,炉温控制精度高

    • 采样过程全智能化,能实时灵敏准确反应样品特性

    • 配备数据采样、数据处理(可计算熔点、热焓、玻璃化温度、部分面积、氧化诱导期、动力学参数等)、数据输出功能的专业智能软件包

    • 用户可方便对仪器进行仪器常数校正,包括温度和热焓校正,减少仪器系统误差

    • CRY-1A选配气氛控制单元,可控制双路气氛流量,稳定切换气路;CRY-2A自带保护气氛单元,可提高长期高温工作状态下热电偶的抗老化能力,延长仪器使用寿命

    • 提供操作方便的仪器校正软件及全套校正标样,便于用户自行校正仪器

    • CRY-1A/2A软件功能

    多任务:可同时执行测量与数据分析
    可调的坐标范围
    数据导出、存储与恢复分析状态
    仪器校正:温度校正,基线校正
    提供丰富实用的热分析专业计算功能,可实现:
    ? 焓值、外延起始点结束点温度、峰值温度的计算(CALIBRATING ENTHALPY,TEXO,TM)
    ? 氧化诱导期的计算(CALIBRATING TOI)
    ? 玻璃化温度计算(CALIBRATING TG)
    ? 仪器系统常数计算(CALIBRATING K COEFFICIENT)
    ? 计算结果斜率点修正(ADJUSTING SLOPE POINT)
    ? 基线拟合(BASELING FITTING)及校正




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