fischer x射线测厚仪菲希尔

fischer x射线测厚仪菲希尔

fischer x射线测厚仪菲希尔

菲希尔光谱仪 X射线荧光镀层测厚仪使用性能主要技术指标：

1、菲希尔xdl230测量原理：X射线荧光光谱法测量镀层厚度

2、菲希尔xdl230测量方式：无损检测，可自动聚焦

3、菲希尔xdl230元素测量范围: Cl（17）--U（92），多可测量24种元素23层镀层。

4、菲希尔x射线测厚仪手动X/Y平台,移动范围≥95x150mm,可用工作台面≥420x450mm

5、菲希尔x射线测厚仪电动Z轴，手动/自动聚焦，可移动范围≥140mm

6、菲希尔x射线测厚仪采用DCM（测量距离补偿法）可远距离对焦测量腔体样品，可达80mm深度

7、fischer测厚仪满足可变高压30KV,40KV,50KV三种可调节，以满足不同的测试需求。

8、fischer测厚仪准直器：φ0.3的圆形准直器

9、fischer测厚仪X射线探测器：比例接收器

10、菲希尔测厚仪统计计算：数据组带时间和时期功能，统计功能包含平均值、标准偏差、大值、小值等；还可输入公差范围，计算CP和Cpk值

警提示功能

11、菲希尔测厚仪windows7以上中文操作界面，WinFTM专业测试软件，具备连接PC和打印机的USB借口

12、菲希尔测厚仪测量误差：镀层厚度≥0.5um时，顶层镀层测量精度≤5%

13、x射线测厚仪采用*基本参数法，内置12纯元素频谱库，可实现无标准片校准情况下测量

14  x射线测厚仪MQ值显示，用于判定测量程式是否与样品匹配，避免误操作

15、x射线测厚仪标准片：配备12种基准纯元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr）。

16、具备高分辨率CCD摄像头，放大倍数40-160倍。

17、仪器应具有环保部门出具的辐射豁免管理函

18、计算机控制系统：I5处理器，8G内存，500G硬盘，19寸液晶显示器，彩色喷墨打印机。

19、工作环境条件：操作温度范围：10℃~40℃；相对湿度：20%～80%；