Fischerscope X-RAY镀金层厚度测量

Fischerscope X-RAY

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有：

 测量大规模生产的电镀部件

 测量薄镀层，例如装饰铬

 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

 全自动测量，如测量印刷线路板

 分析电镀溶液

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希尔X射线镀层测厚仪设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样

品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际

应用的需求。

XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统

高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。

测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。

例如大型的线路板。

所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。

XDL 型光谱仪是安-全而保护测量仪器，型式许可符合德国“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法规规定。