XTD PCB镀层厚度荧光光谱仪

PCB镀层厚度荧光光谱仪技术指标

元素分析范围从钠（Na）到铀（U） 
可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率 
可对10个样品进行自动切换测试 
一次可同时分析多几十种元素 
分析检出限可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9％ 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
长期工作稳定性为0.1％ 
温度适应范围为15℃至30℃ 
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

标准配置

超锐X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器，滤光片 
高清晰CCD摄像头 
SDD探测器 
数字多道采集处理系统 
高低压电源 
进口400W端窗光管油冷散热系统，具有自动控温功能
样品自动切换系统 
全自动真空系统 
专业X荧光分析软件 
计算机及喷墨打印机 
外观尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
样品腔尺寸：￠376×50 mm 
重量：小于250Kg

PCB镀层厚度荧光光谱仪性能特点

特殊光路系统 
采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。

400W大功率X光源 
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。

数字多道技术 
采用新数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。

油冷散热系统 
油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。

光闸系统 
光闸系统，保证X光源的稳定性，同时提升X光管使用寿命。

抽真空系统 
抽真空系统，可以满足轻元素的测量。

自动进样系统 
自动进样系统，可以一次连续检测十二个样品，大大提高了测试人员的工作效率。

侧试模式

普通模式：为普通仪器的常规测试。

超锐模式：使用*超锐光路系统，使用的原理主要能实现两大功能，降低背景，提高检出能力。

一、如图一所示，下图为测土壤中的V（绿）和Cr（红）。实谱为超锐模式，测得的谱图，红色虚谱为普通模式谱图。由图可看出，对于关注元素。超锐模式明显出峰，而普通模式几乎没有出峰。

二、下图二所示，为测土壤中的Zr，实谱为超锐模式所测谱图，红色虚谱为普通模式所测谱图。超锐模式所测得的Zr有效峰背比强度为210.05。普通模式所测得的Zr在相同测试条件下有效峰背比强度为155.72。由图可以看出超锐模式比普通模式出峰要好，而且超锐模式降低了背景。

从以上谱图一可以看出，我们在进行常规测试时。由于土壤中的V、Cr含量低。是无法检测出其含量的。谱图二中，虽然Zr能检测出峰，但是其背景也比较高，对测试的结构影响比较大。而在使用天瑞仪器*超锐光路系统，能降低背景，检测出低含量的元素，提高仪器的检出能力。从而提高仪器的整体测试效果。

应用领域

PCB镀层厚度荧光光谱仪不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要，而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业。