镀铜测厚仪

测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

应用领域

镀层厚度分析；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测；

合金成分分析；

测试步骤

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：用户使用“Administrator”，密码：skyray2.进入测试软件后，选择“测试条件”点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）3.选择“工作曲线”如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推4.放入“Ag片”对仪器进行初始化初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。5.待测样品测试放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。6.测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。 

镀铜测厚仪技术参数 

1   分析元素范围：S-U

2   可分析多达3层以上镀层

3   分析厚度检出限达0.02μm

4   多次测量重复性可达0.05μm

5   定位精度：0.5mm5   测量时间：30s-300s

6   计数率：1000-8000cps

7  仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。

镀铜测厚仪性能优势

下照式：可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片手动切换：不同样品材质用不同的准直器移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点高分辨率探测器：提高分析的准确性镀铜测厚仪新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率