薄膜测厚仪
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- 公司名称 安徽智微科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/6/4 13:45:37
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 医疗卫生,环保,化工,电子/电池 |
产品名称:薄膜测厚仪
主要技术指标:
测量范围(VIS):15nm—100μm
测量重复性(RMS):0.086nm
测量精度(与椭偏仪对比):0.25nm
测量层数:大于3层
使用光源:卤素灯;
入射角度:90°
测试材料:透明或半透明薄膜材料;
光斑尺寸:20μm—3mm(可选)
测量时间:100ms—4ms;
通信接口:USB2.0
产品特点:
采用光谱干涉原理进行测量,具有非接触、无破坏、快速等特点;
可在真空环境使用;可与大行程工件台配合,实现大面积膜厚自动测量。

薄膜测厚仪测试数据:
薄膜测厚仪设备组成:
测试主机、光纤、校正件、测量头、夹持装置、设备箱、手提电脑。