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F2-RT 光谱反射和透射测量系统

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岱美有限公司(Dymek Company Ltd ,下面简称岱美)成立于1989年,是一间拥有多年经验的高科技设备分销商,主要为数据存储、半导体、光通讯、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持,并与一些重要的客户建立了长期合作的关系。自1989年创立至今,岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于香港,中国台湾,中国大陆,泰国,菲律宾,马来西亚及新加坡等地区。

岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品:

晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器等。

岱美重要合作伙伴包括有:n&k Technology ; Veeco di, Wyko, Dektak, IBE, IBD, MTI; Imago; 4D; First Nano; GatanSagitta; AXIC; Tamarack; Thermo Noran; Magnetic Recording Solutions; Schmitt; EVG; Shb; SPTS; ADE; CETR; Contrade; DeWeyl; Filmetrics - Greater China; Global Optron; Herz; Innovative Instrumentation Incorporated; LESCO; Microphysics; OSC; Palomar; PPL JPS; Strasbaugh; Tru-Si; VIC; Westbond; Diamond Innovations; Innovative Organics;nPoint;Photonic Cleaning Technology

如有需要,请联系我们,了解我们如何开始与您之间的合作,实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。



膜厚仪,轮廓仪,EVG键合机,EVG光刻机,HERZ隔震台,Microsense电容式位移传感器

产地类别 国产 价格区间 面议
应用领域 化工

F2-RT 光谱反射和透射测量系统是美国Filmetrics新推出的物超所值同时测量反射率和透射率的仪器。

折射率测量仪特别之处:

1、同时测量反射率和透射率 - 不需要昂贵的价格,物超所值。

2、选购测量厚度和折射率分析软件 - 不需要增加任何硬件,随时随地升级您的设备。

3、不需要基准和背景反射步骤 - 节约测量时间,减少人为误操作。

4、电源来自USB - 无需另外连线或设置,其它设备无所比拟的便利性。

5、快速进入测量状态 - 启动软件10秒钟后F2-RT即可测量。

6、超长灯泡寿命 - 40,000小时光源。

7、内置自动波长校准 –零维修和测量可信度更高。

8、强大的软件功能 - 多功能历史记录能存储,复制和绘制测量结果。

我们存放在国内的样机可免费为客户进行样品测量及现场测量演示,若您有兴趣或其它任何技术或商务咨询,请随时联系我们:F2-RT 光谱反射和透射测量系统




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