X-RAY XDL210荧光测厚仪

X-RAY XDL210荧光测厚仪

X-RAY XDL210荧光测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

 典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液

通用规格

设计用途

能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。

元素范围

从元素氯(17) 到 铀(92)配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多可同时测定 24 种元素

设计理念

台式仪器，测量门向上开启

测量方向

由上往下

X 射线源

X 射线管

带铍窗口的钨管

高压三档： 30 kV，40 kV，50 kV

孔径（准直器）

Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形 0.3 mm x 0.05 mm

测量点尺寸

取决于测量距离及使用的准直器大小，

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

小的测量点大小约 Ø 0.2mm

X 射线探测

X 射线接收器

测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm，使用保护的 DCM 测量距离补偿法

样品定位

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置

手动聚焦，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）

可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品

放大倍数

40x – 160x

电气参数

电源要求

220 V ，50 Hz

功率

大 120 W （不包括计算机）

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸

宽×深×高[mm]：570×760×650

内部测量室尺寸

宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品大高度”部分的说明）

重量

94 kg