X射线金属镀层测厚仪X-RAY膜厚仪

X射线金属镀层测厚仪X-RAY膜厚仪

原理及应用

X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变

根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。

理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。

XRF-2020镀层测厚仪：

别称：X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、X-RAY膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。

功能：精密测量金属电镀层的厚度。

应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

仪器特点:

全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量

功能及应用：

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

仪器测量精度：

表层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内

XRF-2020镀层测厚仪规格型号如下图

 X射线金属镀层测厚仪X-RAY膜厚仪

X射线膜厚仪XRF-2020系列

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。

测量镀层等金属薄膜的厚度

因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。

同时，测量也可以在30秒内完成