MCPD 透过率测试仪
- 公司名称 大塚电子(苏州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型号 MCPD
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2020/6/12 16:03:25
- 访问次数 1305
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
zeta电位?粒径?分子量测量系统,晶圆在线测厚系统,线扫描膜厚仪,显微分光膜厚仪,线扫描膜厚仪,分光干涉式晶圆膜厚仪,相位差膜?光学材料检测设备,非接触光学膜厚仪,小角激光散射仪,多检体纳米粒径量测系统,量子效率测量系统
按探测器 | CCD | 光谱范围 | 紫外 |
---|---|---|---|
价格区间 | 面议 | 应用领域 | 医疗卫生,化工,电子,印刷包装,电气 |
MCPD系列透过率测试仪
(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)
提供丰富选配套件以及客制化光纤,可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的即时测量系统
膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜
膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜
LB膜测量
蒸馏膜测量
多点膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剥离液厚度、湿狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)
树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜