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线扫描膜厚仪离线型

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      大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价·检查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面,对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。

  在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。

  我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品),不断的推出创新产品,面向开展业务,为社会作出贡献。

 

zeta电位?粒径?分子量测量系统,晶圆在线测厚系统,线扫描膜厚仪,显微分光膜厚仪,线扫描膜厚仪,分光干涉式晶圆膜厚仪,相位差膜?光学材料检测设备,非接触光学膜厚仪,小角激光散射仪,多检体纳米粒径量测系统,量子效率测量系统

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 医疗卫生,化工,电子,印刷包装,电气

线扫描膜厚仪离线型

产品信息

特点

·全面·高速·高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

·硬件·软件均为创新设计

·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

·实现高精度测量

·实现高速测量(500万点以上/分)

式样

测量位置膜厚(FFT)
位置分解能1mm以下
测量尺寸大250mm宽×无限长度限制
波长范围400~920nm
各单元的波长范围约0.6nm
膜厚测量范围2~250μm
测量间隔100msec~
装置尺寸W600×D680×H1250mm

 

测量例

250mm宽的薄膜案例

 

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