nanoSAQLA AS50 多检体纳米粒径测量自动进样系统

具体成交价以合同协议为准

公司名称 大塚电子（苏州）有限公司
品牌 OTSUKA/日本大冢
型号 nanoSAQLA AS50
产地
厂商性质 生产厂家
更新时间 2020/6/16 11:11:45
访问次数 970

产品标签

纳米粒径仪纳米粒度仪纳米粒度分析仪

在线交流发送询价查看电话同类产品

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息，谢谢!

索取相关资料

公司介绍 主营产品

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价·检查。

　　以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础，在中国的显示器市场上有着20年以上销售实例，为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明相关方面，对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。

　　在中国的苏州有设立售后服务点，为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。

　　我公司的母公司日本大塚电子集团，隶属于大冢集团，一直以来都谨守大冢集团的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品)，不断的推出创新产品，面向开展业务，为社会作出贡献。

展开

zeta电位?粒径?分子量测量系统，晶圆在线测厚系统，线扫描膜厚仪，显微分光膜厚仪，线扫描膜厚仪，分光干涉式晶圆膜厚仪，相位差膜?光学材料检测设备，非接触光学膜厚仪，小角激光散射仪，多检体纳米粒径量测系统，量子效率测量系统

详细信息 在线询价

测量范围	3nm~10μm微米	测量时间	1min秒
产地类别	进口	分散方式	干湿法分散
价格区间	15万-20万	仪器种类	动态光散射
应用领域	食品,石油,电子,制药

多检体纳米粒径测量自动进样系统

nanoSAQLA搭载Auto sampleAS50，多可连续自动测量50个样品。1个样品的测量时间约1分钟，高速且测量过程中可追加样品。操作简便，作业时间短。玻璃一次性样品池可对应有机溶媒。

产品信息

nanoSAQLA的特点

1台即可轻松连续测量5个样品无autosample也可测量复杂的多个样品可改变各样品的条件进行测量。
从稀薄到浓厚的对应
标准测量时间1分钟，高速测量自动调整从浓厚型到稀薄型样品的适位置，实现约1分钟的高速测量
搭载简单测量功能(点击1次即可开始测量)无任何复杂操作，软件简单易懂
内置非浸渍型样品池单元块，无分注夹杂物各样品池独立存在，无需担心污染问题
搭载温度阶梯功能可轻松进行温度设定

多检体纳米粒径测量自动进样系统的特点

多连续测量50个样品
测量过程中可追加样品
样品设置简单·方便（可整体替换50个样品）
有机溶媒对应（玻璃一次性样品池）
样品容量小0.4ml

测量范围（理论值）

粒径 0.6nm～10μm
浓度范围 0.00001～40％
温度范围 0～90℃*

式样

型号	多检体纳米粒径测量系统
测量原理	动态光散射法（光子相关法）
光源	高出力半导体激光（660nm、70mW）*1
检出器	高感光度APD
连续测量	多5个样品
测量范围	0.6nm ～ 10μm
浓度范围	0.00001 ～ 40% *2
温度范围	0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3
样品容量	矩形样品池：1.2mL～、微量样品池：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
重量	约18 kg
软件	平均粒径解析（累积法解析）
	粒度分布解析
	（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法）粒度分布复写逆相关函数·残差图粒径监测粒径显示范围（0.1 ～ 106 nm）分子量计算功能
选配	微量样品池（可对应20μL）、荧光滤光片

*1 本设备激光等级符合激光安全基准（JIS C6802）等级1。

*2 PS Latex粒子：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%

*3 利用批量样品池架使用玻璃样品池的情况

　使用5联装样品池架或一次性样品池的情况15 ～ 40℃

*4 选配

型号	Auto sample AS50
测量范围	3nm ～ 10μm
浓度范围	0.001 ～ 40%
温度范围	15 ～ 40℃
连续测量	多50个样品
样品容量	AS样品池0.4mL～
尺寸	W240 X D480 X H275 mm （nanoSAQLA+AS50：W480 X D480 X H375 mm）
重量	12 kg （nanoSAQLA+AS50：30kg）