ZK-ESS-800L 高低温快速温变试验箱

高低温快速温变试验箱用途介绍

中科测试设备是快速温变试验箱、快速温度变化试验箱、步入式快速温变试验箱、温度冲击试验箱专业制造商与供应商，通过温变速率为15℃/min、20℃/min、25℃/min对半导体试5纳米芯片、电路主板、动力电池模组、石墨烯液晶屏、华为手机屏、iPhone触摸屏等产品进行应力筛选试验和气候环境可靠性试验。中科测试设备提供具备综合性能可靠的气候环境试验箱。

高低温快速温变试验箱技术参数

1. 工作室容积：150L，225L，408L，800L，1000L。（可按需求定制）

2. 温度范围：-20℃～+150℃；-40℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。

3. 温变速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（可定制：线性温变与非线性温变）

4. 温变范围：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

5. 湿度范围: 20%～98%R.H。（可选5%～98%R.H或10%～98%R.H）

6. 温度波动度：±0.5℃。

7. 温度均匀度：±1.5℃。

8. 湿度稳定度：±1.0%RH。

9. 湿度均匀度：±3.0%RH。

10.承载重量：8.0kg。

11.功率：8.0KW～35.0KW。

12.电源：AC220V(三线制）±10% 或 AC380V（五线制）±5%。

13.加湿系统：钛合金护套式电加热加湿器，湿气均匀发生装置。

14.加热系统：进口SUS304#不锈钢鳍片式耐湿、耐热、耐寒空气式加热控温。

15.制冷系统：*全/半封闭“泰康/比泽尔”牌压缩机二元复叠模块化机组制冷。

16.节能方式：冷端PID调节（即加热不制冷，制冷不加热），比平衡调温方式节能30%。

快速温变试验箱型号及规格

 型 号        内箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

可按要求尺寸非标定制......

高低温快速温变试验箱的特点：  

1.快速温变试验一般通过操作进行。因此，具有操作简单易懂的特点，不会使操作人员陷入一些不必要的盲目操作；  

2.快速温度变化试验需要严格执行整个过程。因此，外观设计一般采用平面无反作用把手，配备宽敞的大观察窗和高亮度荧光灯，使实验者能够很好地观察箱内产品的变化；  

3.由于快速温变试验将应用于各种产品试验，为了避免试验过程中出现泄漏等危险情况，有设计安全保护，既保证了试验的稳定性，又保护了用户的安全性；  

4.由于快速温度变化试验需要准确把握温度，通常配备全毛细管主导的自动负载调节技术，该技术为试验提供更稳定可靠的温度，更准确地把控温度。  

温度指标有温度范围、温度均匀度及温度波动度，在试验进行温度调整时往往有着众多因素来影响着温度均匀度的平衡状态，影响因素有哪些：  

1、热负载因素：如果试验箱工作室内放置了足够影响内部整体热对流的试验样品，就必然会在一定的程度上来影响内部温度的均匀性，比如说放置LED照明产品，其产品自身就存在着发光发热的情况，成为热负载，那么对于温度均匀度的就存在很大的影响。  

2、热传递：由于工作室的箱壁前后左右上下6个面的传热系数不同，因有的有穿线孔、检测孔、测试孔等小细节的设计会导致局部有散热、传热，使设备箱体有温度不均匀现象，而使箱壁辐射的对流传热也会不均匀，影响温度均匀。  

3、热辐射：设计上的问题导致试验箱在内部结构、空间的设计很难达到均匀的对称结构，而不对称的结构必然会导致内部温度均匀度产生偏差，这个层面它最主要的是反映在钣金设计与它的处理两方面，比如风道的设计、发热管的放置位置、风机功率的大小等原因。  

4、密封性：箱体和门密封性不严，比如：密封条非定制的有接缝以及大门漏气等，从而影响工作空间的温度均匀性。  

5、箱体结构：由于箱内壁结构不同，所以导致试验箱内壁的温度也会不均匀，进一步的对工作室内的热对流形成影响从而造成内部温度均匀度产生偏差。