ZK-ESS系列 快速温变测试箱制造商

深圳快速温变测试箱制造商生产的高低温快速温变测试箱通过拟定的温变测试程序，以温变速率10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min​应用于航空航天、国防科研、半导体制造、汽车配套、手机制造、新能源动力总成等行业，对工业制品、电子零件、汽车零部件、笔记本电脑、光电器件、互连电路、组件单元、电子设备、动力电池、新能源汽车、芯片制备、电路主板进行高温温变试验、低温温变试验，结合温湿度线性组合测试条件，检测产品自身的环境适应能力与特性在热机械性能引起的失效筛选试验和失效模式评估，避免产品在使用过程中受到温度环境应力的考验时而导致失效。

深圳快速温变测试箱制造商提供的试验要求

1.MIL-STD-2164、GJB-1032-90电子产品应力筛选：

高温：150℃；低温：-60℃；温变率：5℃/min；循环数：10～12次；循环时间：3h20min。

2.MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选：

高温：71℃；低温：-54℃；温变率：5℃/min；循环数：10次；循环时间：3h20min。

3.MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选：

高温：150℃；低温：-60℃；温变率：10℃/min；循环数：10次；循环时间：工作室达到温度10℃时。

4.NABMAT-9492美军*制造筛选：

高温：55℃；低温：-53℃；温变率：15℃/min；循环数：10次；循环时间：工作室达到温度15℃时。

5.GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选：

高温：85℃；低温：-55℃；温变率：15℃/min；循环数：≧25次；循环时间：工作室达到温度稳定的时间。

6.GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选：

高温：70℃；低温：-55℃；温变率：5℃/min；循环数：≧10次；循环时间：工作室达到温度稳定的时间。

7.笔记型计算机：

高温：85℃；低温：-40℃；温变率：15℃/min；循环数：≧10次；循环时间：3h20min。

高低温快速温变测试箱型号和规格选择如下

 型 号        内箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非标定制......