DX 多功能X射线衍射/反射仪
- 公司名称 北京亚科晨旭科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 DX
- 产地 美国
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2019/7/2 15:05:56
- 访问次数 1555
联系方式:绍兵18263262536 查看联系方式
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
价格区间 | 300万-500万 | 仪器种类 | 小角散射仪 |
---|---|---|---|
应用领域 | 化工,生物产业,能源,电子 |
简介
Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备,可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控,并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换*在菜单式程序控制下由计算机完成,无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备,并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。
常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪,实现部分、乃至*的自动化运行,自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用*的手动模式操作Delta-X衍射仪,以便发展新测量方法,研究新材料体系。
数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分,可实现*自动化,也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求,将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行,允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析,并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装,以便进行更详细的数据分析。
Delta-X衍射仪能满足科学研究所和技术开发中心 不同材料体系的*测试需求。
Delta-X 衍射仪的主要特点和优势
- 自动化进行样品准直、测试、和数据分析
- 客户可以自行设定测量的自动化程度
- 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计,高精度的样品定位和扫描
- 300mm的晶片水平式放置,且可以完整mapping
- 100º的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间,可实现极图和残余应力测试
- 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要,自动选择光学配置并实施光学准直
- 工业界先的设备控制软件和数据分析软件
- 高分辨率测角仪,以保证精密且准确的测量
- 高强度的光源台设计和光学元件组合,以实现快速测量
- 多方面广泛的测试技术和测量参数
- 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造,具有客户经验。
Delta-X衍射仪的特点和优势
自动化控制的光学系统:
Delta-X衍射仪的入射束包括多种标准的光学配置模式,以便使光学配置具有充分的灵活性,且易于操作。可以依据测量样品的材料类型,选择参考晶体。
- 标准模式:用于所有系统,平行束多层膜高反镜
- 其他四种光学系统可以选择和安装:
- Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)
- Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)和一个参考晶体(二次反射)
- 两个独立的参考晶体(二次反射):参考晶体的材料类型和分辨率有多种设计供选择,以便提供与测量zui匹配的分辨率。
- 两个参考晶体,以Bartels模式安装
- 参考晶体和高反镜均可自动化切换
- 不需要将参考晶体和高反镜手动移出衍射仪,保证光学元件不被损坏、不偏离准直状态。
- 衍射仪的初始准直易于操作,安全可靠,无需在设备内开启X射线操作。
样品台
可放置直径≤300mm晶片或多个小尺寸晶片、样品
Delta-X衍射仪的欧拉(Eulerian )环支架设计允许放置单个或多个晶片或样品,并提供多个转动轴的大范围、高再现性的精确移动控制。
- 水平式样品放置
- 可实现X和Y轴方向上,300mm内的完整mapping测量,无边缘测量失真的现象
- 10mm的Z轴高度范围,即使对厚样品也可以调整晶片高度,获得zui佳测量位置
- 在样品盘的不同位置,设计了均匀、无扭曲的真空轻度吸附,既适合大尺寸晶片放置,又适合独立、小尺寸晶片的多片式放置
- 100°的Chi轴倾转范围,可实现完整的极图和残余应力测量
- Phi轴的旋转范围无限制,可实现完整的极图和面内衍射测量
“边缘至边缘”全晶片测量 (无边缘测量失真现象)
Delta-X衍射仪支持全晶片测量,无边缘测量失真的现象。
特殊环境样品台
Delta-X衍射仪可选配高温台,并用于各种测试技术。
- 样品尺寸≤25mm
- XRR/XRD/HRXRD等技术均可实现
- zui高温度可达1100℃
- 可实现真空、空气、特殊气体等不同的测量环境
- 可实现温度的计算机自动控制
探测台
闪烁式高性能点探测器
探测系统具有显著提高响应特性等多方面的特点:
- EDRc (动态响应范围增强型)探测器的动态响应范围>2x107cps。配置全自动化衰减器后,动态响应范围可提高至5x108cps。
- 选配三轴分析晶体和Soller狭缝,可自动化准直,以保障各项测量所需的分辨率。
- 马达驱动的自动化探测狭缝。无需手动调整,即可控制探测台的接收精度。
- 超快速扫描引擎和软件。大范围扫描可以在5秒内完成。
性能的线探测器(选配件)
提供一维(1D)线探测器可供选择,能实现束线信号的同步平行采集,能显著提高XRD的测量速度。特别适用于小束斑条件下的XRD测量、和快速HRXRD倒易空间map测量。
- 自动化束线准直
相关分类
该厂商的其他产品
- D8 DISCOVER 布鲁克 D8 DISCOVER X射线多晶衍射仪
- D2 PHASER 布鲁克 D2 PHASER X射线衍射仪
- Nordson Dage Quadra 系列X射线检测系统
- XD7500VR Ja Nordson Dage XD7500VR Jade FP--- X射线检测系统
- XD7800NT Ru Nordson Dage XD7800NT Ruby XL 大板应用解决方案
- Quadra 3; Nordson Dage Quadra 3 X-射线检测系统-灵活的
- Quadra 7; Nordson Dage Quadra 7 X-射线检测系统-灵活的
- Quadra™ 5 Nordson Dage Quadra™ 5 X-射线检测系统-灵活的