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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>集成电路测试与分选设备>探针台>SHCV-6/SHCV-8/SHCV-12 分析探针台

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SHCV-6/SHCV-8/SHCV-12 分析探针台

具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


  SEMISHARE 森美协尔有限公司,是集自主研发/设计、生产、销售为一体的探针测试集成系统和激光修复设备及解决方案供应商,致力于为用户提供基于探针系统标准的精密测量测试方案,主营业务包括半导体行业、光电、集成电路及封装测试中复杂器件的精密检测系统及激光修复系统的设计制造,有超过10年的行业经验和技术积累;目前设有半导体营销事业部和半导体设备制造工厂,在多个细分市场建立了稳定的客户关系和供应体系。
  经过不断的前沿技术创新,SEMISHARE可提供更完善的产品解决方案,帮助改善芯片产业的产品品质及可靠性,缩短研发时间和器件制造工艺成本。

 

半导体检测设备:探针台,I-V/C-V参数测试仪,网络分析仪,激光系统,金相显微镜,EMMI微光显微镜,X射线,C-SAM超声波探测,电子显微镜

产地类别 国产 电动机功率 2.2KWkW
外形尺寸 860mm*850mm*700mmmm 应用领域 电子/电池
重量 170kgkg
半自动分析探针台
型号SHCV-6SHCV-8SHCV-12
外形860mm*850mm*700mm880mm*860mm*750mm1300mm*920mm*920mm
重量180KG250KG380KG
电力需求AC220V,50~60HZ
Chuck尺寸6英寸8英寸12英寸
X-Y轴行程6*6英寸8*8英寸12*12英寸
X-Y轴移动解析度0.1um
X-Y轴重复定位精度±1um
移动速度 50 mm/sec
Z轴行程10mm
Z轴移动解析度0.1um
Z轴重复定位精度±1um
Theta角度行程±10°Theta角度解析度0.0001°
样品固定方式多孔真空吸附,独立分区控制
切换样品功能样品台快速拉出
结构同轴高压设计,镀金,电学独立悬空,可作为背电极使用
针座平台规格O型平台,多可放置8个针座O型平台,多可放置10个针座O型平台,多可放置12个针座
行程&调节方式平台可以快速升降,行程6mm并带自动锁定功能
温控特性温度范围100~20080~20060~200
温控精度温度分辨率  0.01°C
加热电源LVDC 低压直流
低控温速率±0.1°C  /小时
传感器Pt100
制冷方式液氮制冷或者压缩机制冷
软件功能wafer map的编辑光学特性显微镜行程2*2inch 
仪器的接入显微镜行程1um
数据的采集和图像化显示放大倍数20-4000X
数据的分析CCD像素50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)
差异数据的标定Ink mark点针规格点针精度10微米/2微米/0.7微米
自定义BinX-Y-Z行程12mm-12mm-12mm
自动测试漏电精度  10pA/100fA
通讯接口:RS232/484TCP/IP/,GPIB接口形式香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴/SMASHV接口
大功率规格配置大功率kelvin样品台减震主动式减震系统,能够实现50X 物镜下画面不抖动
大功率夹具线缆可选附件射频测试chuck快速拉出装置
mult-pin 分流探针卡盘镀金PCB板夹具
大功率保护模块(针座用)激光修复液晶热点侦测套装
保护红外光幕,防止人员误进入工作区,触发时interlock互锁探针卡夹具光强/波长测试接口部件
大功率仪器连接模块屏蔽箱高低温样品台(-80~200℃)
大测试电压10KV加热台显微镜倾仰装置
大测试电流500A(脉冲)应用方向晶圆测试,功率器件半自动测试
  
特点:
Si/SiC/GaN等晶圆测试超高的测试精度和测试效率
大功率晶圆测试便捷的仪器接入
-80~200℃)高低温Chuck半自动测试
20~4000X光学显微放大可升级全自动测试
功能丰富的测试软件可升级射频测试

 

 
半自动分析探针台
型号SHCV-6SHCV-8SHCV-12
外形860mm*850mm*700mm880mm*860mm*750mm1300mm*920mm*920mm
重量180KG250KG380KG
电力需求AC220V,50~60HZ
Chuck尺寸6英寸8英寸12英寸
X-Y轴行程6*6英寸8*8英寸12*12英寸
X-Y轴移动解析度0.1um
X-Y轴重复定位精度±1um
移动速度 50 mm/sec
Z轴行程10mm
Z轴移动解析度0.1um
Z轴重复定位精度±1um
Theta角度行程±10°Theta角度解析度0.0001°
样品固定方式多孔真空吸附,独立分区控制
切换样品功能样品台快速拉出
结构同轴高压设计,镀金,电学独立悬空,可作为背电极使用
针座平台规格O型平台,多可放置8个针座O型平台,多可放置10个针座O型平台,多可放置12个针座
行程&调节方式平台可以快速升降,行程6mm并带自动锁定功能
温控特性温度范围100~20080~20060~200
温控精度温度分辨率  0.01°C
加热电源LVDC 低压直流
低控温速率±0.1°C  /小时
传感器Pt100
制冷方式液氮制冷或者压缩机制冷
软件功能wafer map的编辑光学特性显微镜行程2*2inch 
仪器的接入显微镜行程1um
数据的采集和图像化显示放大倍数20-4000X
数据的分析CCD像素50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)
差异数据的标定Ink mark点针规格点针精度10微米/2微米/0.7微米
自定义BinX-Y-Z行程12mm-12mm-12mm
自动测试漏电精度  10pA/100fA
通讯接口:RS232/484TCP/IP/,GPIB接口形式香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴/SMASHV接口
大功率规格配置大功率kelvin样品台减震主动式减震系统,能够实现50X 物镜下画面不抖动
大功率夹具线缆可选附件射频测试chuck快速拉出装置
mult-pin 分流探针卡盘镀金PCB板夹具
大功率保护模块(针座用)激光修复液晶热点侦测套装
保护红外光幕,防止人员误进入工作区,触发时interlock互锁探针卡夹具光强/波长测试接口部件
大功率仪器连接模块屏蔽箱高低温样品台(-80~200℃)
大测试电压10KV加热台显微镜倾仰装置
大测试电流500A(脉冲)应用方向晶圆测试,功率器件半自动测试
  
特点:
Si/SiC/GaN等晶圆测试超高的测试精度和测试效率
大功率晶圆测试便捷的仪器接入
-80~200℃)高低温Chuck半自动测试
20~4000X光学显微放大可升级全自动测试
功能丰富的测试软件可升级射频测试
   
    
   


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