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化工仪器网>产品展厅>半导体行业专用仪器>集成电路测试与分选设备>探针台>SX-6/SX-8/SX-12 SX系列半自动晶圆探针台

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SX-6/SX-8/SX-12 SX系列半自动晶圆探针台

具体成交价以合同协议为准

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  SEMISHARE 森美协尔有限公司,是集自主研发/设计、生产、销售为一体的探针测试集成系统和激光修复设备及解决方案供应商,致力于为用户提供基于探针系统标准的精密测量测试方案,主营业务包括半导体行业、光电、集成电路及封装测试中复杂器件的精密检测系统及激光修复系统的设计制造,有超过10年的行业经验和技术积累;目前设有半导体营销事业部和半导体设备制造工厂,在多个细分市场建立了稳定的客户关系和供应体系。
  经过不断的前沿技术创新,SEMISHARE可提供更完善的产品解决方案,帮助改善芯片产业的产品品质及可靠性,缩短研发时间和器件制造工艺成本。

 

半导体检测设备:探针台,I-V/C-V参数测试仪,网络分析仪,激光系统,金相显微镜,EMMI微光显微镜,X射线,C-SAM超声波探测,电子显微镜

产地类别 国产 电动机功率 2.2KWkW
外形尺寸 1000mm*1400mm*1400mmmm 应用领域 电子/电池
重量 1000kgkg
SX系列半自动晶圆探针台
型号SX-6SX-8SX-12
外形(W*D*H1000mm*1400mm*1400mm1100mm*1500mm*1400mm1200mm*1600mm*1400mm
重量1000KG1150KG1350KG
电力需求AC220V50~60Hz
CDA需求0.4~0.8Mpa
Chuck尺寸6812
X-Y轴行程200mm*300mm250mm*400mm350mm*500mm
X-Y轴移动解析度0.1μm
X-Y轴重定位精度±1μm
X-Y移动速度70mm/sec
Z轴行程20mm
Z轴移动解析度0.1μm
Z轴重定位精度±1μm
Z轴移动速度20mm/sec
Theta角度行程±10°Theta角度解析度0.0001°
样品固定方式多孔真空吸附,独立分开控制
更换样品方式Chuck快速拉出
结构三轴超低噪声设计,镀金,电学独立悬空(chuck可作为背电极)
针座平台规格O型平台,多可放置12个针座(不安装八角盒时)
显微镜X-Y-ZX-Y轴行程2* 2
X-Y轴移动解析度0.1μm
X-Y轴重定位精度±2μm
X-Y移动速度10mm/sec
Z轴行程5
Z轴移动解析度0.1μm
Z轴重定位精度±1μm
Z轴移动速度10mm/sec
显微镜变倍显微镜151三档变倍显微镜,可同时显示低倍和中倍/高倍画面,便于点针操作
相机双相机(200W或者500W 工业级数字相机)
点针规格点针精度10μm / 2μm / 0.7μm
X-Y-Z行程12mm-12mm-12mm
漏电精度10pA / 100fA / 10fA
接口形式香蕉头/同轴 /三轴/ SMA /SHV
固定方式磁力吸附 / 真空吸附
温控组件温度范围60-200℃(标准)
温控稳定性±0.1
温控分辨率0.01
升温时间
12″卡盘)
60℃至+25℃≤15分钟
+25℃至+200℃≤25分钟
降温时间
12″卡盘)
200℃至+25℃≤30分钟
25 -60℃≤50分钟
噪声50dB
加热方式低压直流加热/PID控制
制冷方式压缩机制冷
减震减震方式空气薄膜减震系统,确保2000X放大时画面不抖动
震动抑制在运动过程中以及起始或者停止时能够极快的速度保证设备的平稳≤1S,提高测试效率。
系统屏蔽EMI屏蔽> 30 dB (typical) @ 1 kHz to 1 MHz
光衰减 130 dB
光谱噪声基底 -180 dBVrms/rtHz ( 1 MHz)
系统交流噪声 5 mVp-p ( 1 GHz)
软件功能自动测量和补偿Wafer高度可对仪表的输入输出参数进行管理编程可实时显示测试结果
自动align,校准晶圆校水平可对测试结果进行bin值划分,判断器件好坏器件测试应用独立升级
自动测量Die size及生成map多系统集成迅速完成,可支持单点或连续测试强大的数据储存能力以及数据处理能力
任意wafer map 编辑支持ZN形等测试自动保存数据以及数据曲线,且数据可远程访问
差异数据的标定Ink mark一键自动校准RF探针模块,自动清针功能通讯接口:R232/485/TCP/IP/GPIB
操作系统与应用分离;操作系统可独立式升级,应用独立升级
 
特点:
超高的测试精度,效率和稳定性便捷的仪器接入
多倍率同时显示光学系统可升级大功率晶圆测试
-60~200℃)超低噪声高低温Chuck可升级射频测试
功能丰富的测试软件可升级全自动测试


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