低相位差高速检查设备RE-200
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 大塚电子（苏州）有限公司-J
- 品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2019/5/25 16:25:28
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特 点
• 低相位差高速检查设备RE-200可测从0nm开始的低（残留）相位差
• 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于快速的0.1秒以下来处理）
• 无驱动部，重复再现性高
• 设置的测量项目少，测量简单
• 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
• Rth测量、*角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
• 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）
测量项目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 椭圆率（ε）・方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 低相位差高速检查设备RE-200位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
• 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
采购中心
化工仪器网