Ultima IV 多功能X射线衍射仪Ultima IV系列

多功能X射线衍射仪Ultima IV系列技术参数 

1. X射线发生器功率为3KW 
2. 测角仪为水平测角仪 
3. 测角仪小步进为1/10000度 
4. 测角仪配程序式可变狭缝 
5. 高反射效率的石墨单色器 
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学*） 
7. 小角散射测试组件 
8. 多用途薄膜测试组件 
9. 微区测试组件 
10. In-Plane测试组件（理学*） 
11. 高速探测器D/teX-Ultra 
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 
13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 

多功能X射线衍射仪Ultima IV系列主要特点： 
可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 
主要的应用有： 
1. 粉末样品的物相定性与定量分析 
2. 计算结晶化度、晶粒大小 
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 
4. Rietveld结构分析 
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 
7. 小角散射与纳米材料粒径分布 
8. 微区样品的分析