立式光学计
- 公司名称 上海泰明光学仪器有限公司-J-(2011.5宁波展)
- 品牌
- 型号
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2019/1/22 17:00:13
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产地类别 | 国产 |
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用途 Applications: 立式光学计通过两种测量方式:目镜读数和投影读数,是采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块,一级精度柱型规及各种圆柱形,球形,线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量,对被测件作微小位移测量。立式光学计亦可用来控制精密零件的加工,对铝箔、包装薄膜、纸张等厚度测量,用于大专院校、计量测试部门等企业。
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技术规格 MAIN SPECIFICATIONS
被测件大长度 Max. measured length | 180 mm |
直接测量范围 Measuring range | ±0.1 mm |
分划板分度值 Scale graduation | 1 μm |
总放大倍数 Total magnification | 1000 x |
测量压力 Measuring pressute | (2±0.2) N |
示值变动性Instability | 0.1 μm |
大不准确度 Max. inaccuracy | ±0.25 μm |
目镜读数方式 Reading mode | 分划板读数(高清晰分划板) Scale |
投影读数方式 Reading mode | 分划板放大读数 Scale |
大测量误差 Max. measurement error | ±(0.5+L/100) μm L是被测长度,以mm计 L is the measured length in mm |
仪器体积Dimensions | 340×160×410 mm |
仪器重量Weight | 30 kg |
标准配件 Standard attachments | 可调带筋园台Ribbed circular stage, adjustable 可调园平台Planar circular stage, adjustable 带筋固定方台Ribbed square stage, fixed 平面测帽Planar contact tip, Ф2 平面测帽Planar contact tip, Ф 8 小球面测帽Small spherical contact tip 刃形测帽Knife contact tip |
选购件Option | 三点工作台
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