研究级共聚焦显微系统

µsurf expert实验室非接触性测量系统

研究级共聚焦显微系统是一套*为测试以及实验设备的开发而优化的系统，满足非接触性测量行业内高的要求。

测量系统配备有高精度的传感器，与位于x,y,z轴向的线性编码器以及诸多的自动化选项，usurf expert提供高级别的操作舒适感，这一切都归功于手动的z轴调节以及人体工学设计。

客户可自由切换选择 用户主导模式或是全自动选项，此项功能在*简洁的操作中保证了测量的质量与精度。

光学三维表面检测的新标准

根据usurf expert测定原理可以检测粗糙度，几何形状，平整度，磨损度，轴承比率和进一步的参数可以按照标准例如ISO25178和ISO4287测定。触觉计量学相比，三维测量的表面结构提供了定量的信息使人们有可能获得更多的有意义的结果。与此同时，具有高焦深的显微图像生成*佳的文档。

超细粗糙结构的轮廓精确地再现代表了NanoFocus开发的核心质量标准共焦测量技术。这是应用程序的测试实验室和质量控制测量设备的必要前提。

自动化包括的几个选项

研究级共聚焦显微系统样品自动测量与分析通过成千上万编程系列测量，NanoFocus提供高性能存入数据库软件，它允许灵活的编程进行测量和评估策略。

应用实例

在测试和开发实验室，一个范围广泛的材料，其独立的表面性质，可以用usurf expert灵活的共聚焦3D显微镜测量。随着自动测量和分析功能，共聚焦显微镜也适合于在众多的测量任务过程中的质量保证。