徕卡DM12000M半导体检测金相显微镜

徕卡DM12000M半导体检测高端金相显微镜，可实现大型12寸晶圆观察，常规金相材料、电子元器件、LCD、粉尘颗粒等样品观察分析。可配接Leica摄像头，热台等配件。

DM12000M高级智能数字式正置显微镜，适合晶圆、电子元器件、金属、陶瓷、高分子材料、粉尘颗粒等样品观察分析，多种安全设计，保护晶圆，镜头及观察者。

徕卡DM12000M显微镜的晶圆检测显微镜采用模块设计，可实现反射观察、透射观察配置；

复消色差光路，整体支持25mm视野直径；

DM1200M高端金相显微镜可选配UV光源，提高观察分辨率至亚微米机构，UV由大功率LED产生，具有UV和OUV功能；

徕卡研究机显微镜DM1200M配置12x12大样品台，可观察晶圆，LCD等大尺寸样品；

6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径长工作距离工业物镜；

内置电动或手动调焦系统；

徕卡精密复检显微镜DM1200M独有0.7x宏光物镜，具有宏光晶圆检查功能。

徕卡DM12000M半导体检测高端金相显微镜产品特点：

四倍视野

徕卡DM12000M的宏观放大功能，使您可以比传统扫描物镜多看四倍以上的视野。

人体工学设计

DM12000M显微镜非常适合长时间在显微镜上工作,直观操作适应任何程度的使用者。

极限分辨率

作为高端金相显微镜，徕卡DM12000M全新的倾斜紫外模式(OUV) 在紫外光基础上结合了倾斜光设计理念，确保您可以从任何角度都得到可见物理光学的极限分辨率。