thick800a 国产艺慈x光镀层测厚仪
- 公司名称 深圳市艺慈仪器有限公司
- 品牌 SanX/三翔
- 型号 thick800a
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/1/8 18:30:46
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价格区间 | 面议 |
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【国产x光镀层测厚仪技术指标】
分析元素范围:从硫(S)到铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层(镀镍、镀金、镀银、镀锡等)
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用良好的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
稳定性:可达0.1%
Ф0.3mm四种准直器组合
操作环境湿度:≤90%
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境温度 15℃~30℃
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
【国产x光镀层测厚仪测试实例】
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素,大大提高测试稳定性、降低检测限。
Thick 8000x光镀层测厚仪检测谱图
某国外x光镀层测厚仪仪器检测谱图
11次测量结果(Au-Cu)的稳定性数据对比如下:
次数 | Thick8000x光镀层测厚仪 | 行业内其他仪器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
标准偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相对标准偏差 | 1.70% | 4.03% |
极差 | 0.0024 | 0.0055 |