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FT110A XRF镀层测厚仪

具体成交价以合同协议为准

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联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司。该公司总部位于英国牛津,在芬兰、德国和中国有研发和组装业务,在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器的产品系列包括:

§   微焦斑XRF镀层分析仪FT230以及FT160FT110AX-Strata920可测量单层和多层镀层(包括合金层)的镀层厚度,适用于质量控制或过程控制程序以及研究实验室。

§   专业RoHS分析仪:日立的EA1400EA1000AIIIEA6000VXHM1000A分析仪专为有害物质限制分析而设计,快速且易用,其灵活性能确保适应不断发展的法规规定。

§   锂离子电池分析EA8000A X射线粒子污染物分析仪专用于快速有效地控制锂离子电池生产的质量。

§   热分析热分析系列仪器DSC600DSC200STATMA7100TMA7300DMA7100已经过优化可检测和显示超小的反应同时具有稳定可靠和易用等特点。

§   手持式分析仪:数以千计的企业使用X-MET8000的精密XRF技术以简单、快速、无损分析的方式实现合金分析、废金属分拣和金属牌号筛查。VulcanLIBS激光技术驱动,可在一秒钟内识别金属合金;非常有利于企业处理大量金属,是世界上超快速分析仪之一。

§   多功能台式XRF分析仪Lab-X5000X-Supreme8000为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多个行业提供高度可靠的质量保证和过程控制。

§   OES金属分析仪:全球许多行业使用OE750PMI-MASTERFOUNDARY-MASTERTEST-MASTER系列直读光谱仪进行高精密度金属分析。





XRF光谱仪,直读光谱仪,镀层测厚仪,热分析,激光光谱仪

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 电子/电池,航空航天,汽车及零部件 产品参数 联系我们了解更多

高通量镀层分析

x荧光测厚仪 FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最高标准。


准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A XRF镀层测厚仪能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足最高的行业电镀规范。


产品亮点

专为高通量生产而设计,来看 FT110A XRF镀层测厚仪如何支持您的质量控制。

  • 强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果

  • 对成品安全的无损检测

  • 自动化功能提高生产力

  • 分析多达四层和基材,加上电镀液

  • 易于非专业操作员使用

  • 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

  • 大样品舱可容纳各种样品

  • 可定制的选项以适合您的应用


FT110A

元素范围

Ti – U

探测器

正比计数器系统

样品舱设计

开闭式或开槽式

准直器数量

2 或 4

最小准直器

0.025 x 0.4 mm

XY轴样品台选择

程控或固定

XY轴样品台行程

250 x 200 mm

程控Z轴行程

150 mm

最大样品尺寸

500 x 400 x 150 mm

样品聚焦

聚焦激光和可选的自动聚焦

样品视图

摄像头视图和可选的第二广角摄像头

测量点识别

可选

软件

X-ray Station




 



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