FT110A XRF镀层测厚仪
- 公司名称 日立分析仪器(上海)有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型号 FT110A
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/5/7 13:26:36
- 访问次数 4177
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 电子/电池,航空航天,汽车及零部件 | 产品参数 | 联系我们了解更多 |
高通量镀层分析
x荧光测厚仪 FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最高标准。
准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A XRF镀层测厚仪能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足最高的行业电镀规范。
产品亮点
专为高通量生产而设计,来看 FT110A XRF镀层测厚仪如何支持您的质量控制。
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强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
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对成品安全的无损检测
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自动化功能提高生产力
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分析多达四层和基材,加上电镀液
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易于非专业操作员使用
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测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
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大样品舱可容纳各种样品
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可定制的选项以适合您的应用
FT110A | |
元素范围 | Ti – U |
探测器 | 正比计数器系统 |
样品舱设计 | 开闭式或开槽式 |
准直器数量 | 2 或 4 |
最小准直器 | 0.025 x 0.4 mm |
XY轴样品台选择 | 程控或固定 |
XY轴样品台行程 | 250 x 200 mm |
程控Z轴行程 | 150 mm |
最大样品尺寸 | 500 x 400 x 150 mm |
样品聚焦 | 聚焦激光和可选的自动聚焦 |
样品视图 | 摄像头视图和可选的第二广角摄像头 |
测量点识别 | 可选 |
软件 | X-ray Station |