Hawk 200 Hawk 200光学测量机

Hawk 200

优异的光学技术

精密元器件的精确非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。 

Hawk 200采用英国工业显微镜有限公司的高能光学技术，为快捷和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。 

有所视频系统数码化光学信息。Hawk 200与其区别之处，是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件必能准确地被测量。 

 

精密测量平台

Hawk 200可选配各种高规范、高性能的测量平台，提供测量规格可达 400毫米x 300毫米(16英吋x 12英吋)。所有的测量平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以保证优良的精度，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST标准以符合ISO9000质量认证。结合0.5μm分辨力的测量译码器，这保证该系统2μm的可重复性精度。* 

 

直观的微处理器

数据处理由 QC-200 多功能微处理器完成，QC-200 zui适用于测量普通元器件的外貌特征，例如圆、角、线、弧及距离，并且以操作简便为主而设计，采用了一个直观的界面装置及有实质的视觉显示。X、Y和Z坐标测量是以数字和图解形式表示。输出连接包括USB端口、并联端口和串联端口。

 

选配件和附属配件

表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作为标配），配置高倍率物镜，并可装插在四孔位的物镜转换器上，其放大倍率为：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。