X射线荧光镀层测厚仪

快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，底成本、高效率

X射线荧光镀层测厚仪工作特点：

测量元素范围：钛Ti22---铀U92；

测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

测量精度高、稳定性好，测量结果*确至μin；

快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

进行贵金属检测，如Au karat评价；

材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；

拥有NIST认证的标准片；

*的系统安全性 

简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权

主管人员可进行系统维护

系统自动生成操作员的使用记录

自动锁定功能防止未授权的操作

Z轴保护传感器

安全防射线光闸

样品室门开闭传感器

X射线锁

X射线警示灯

紧急停止按钮

前面板安全钮和后面板安全锁

X射线荧光镀层测厚仪工作原理：

对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

配置

l X-Strata920测试主机

l 联想ThinkCentre计算机（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包

l 17吋戴尔Dell液晶显示器

l 佳能Canon彩色喷墨打印机

l 标准片组件（满足镀层需要）