UV757CRT紫外可见分光光度计
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 上海天普分析仪器有限公司
- 品牌
- 型号
- 产地 上海市徐汇区龙漕路51弄3号2303室
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/5/14 10:13:56
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UV757CRT紫外可见分光光度计主要特点
采用微机测量系统,T-A转换,自动调整“0”和调整“100”,具有GOTOλ,时间扫描,自动8联样品架,自动扣除比色皿误差,浓度多点标定,斜率和载距设置等动能,具有RS232借口和并行打印机口(打印机,另行选配)。
联机功能:通过RS-232串行接口,可利用上层软件作全波长扫描,时间扫描,浓度回归方程(1次、2次、3次),多波长测试,并大大扩展测试功能(除主机功能外)。
UV757CRT紫外可见分光光度计产品参数
波长: 范围:200nm-1000nm
度:±0.5nm
重复性:≤0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比: 度:±0.5% τ
重复性:≤0.2% τ
范围:0.0%τ-200.0%τ
杂散光: ≤0.3%τ(在220nm和340nm处)
吸光度: -0.301%τ-4.000A
稳定性: ≤0.004A/30min
功率和电源:50Hz±1Hz/AC220V±22V